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        國創(chuàng)中心車規(guī)功率半導(dǎo)體測試實(shí)驗(yàn)室在北京亦莊啟用

        作者: 時(shí)間:2024-03-11 來源:全球半導(dǎo)體觀察 收藏

        據(jù)國創(chuàng)中心公眾號(hào)消息,近日,國家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)新中心車規(guī)測試實(shí)驗(yàn)室正式投入運(yùn)營,為汽車半導(dǎo)體的技術(shù)進(jìn)步和質(zhì)量提升提供支撐。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202403/456183.htm

        由于車規(guī)具有高可靠性、高效率、高功率密度、快速開關(guān)能力、耐高溫特性等特點(diǎn),因此需要通過嚴(yán)格的質(zhì)量認(rèn)證和測試來確保其質(zhì)量和可靠性。

        據(jù)悉,目前,該實(shí)驗(yàn)室測試能力已涵蓋AECQ101、AQG324等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),并持續(xù)完善車規(guī)級(jí)碳化硅(SiC)、板級(jí)及系統(tǒng)級(jí)測試,確保滿足最嚴(yán)苛的汽車電子質(zhì)量要求。其中,面向行業(yè)研究熱點(diǎn)之一的SiC,該實(shí)驗(yàn)室能對(duì)Si基和SiC基的DIODE、MOSFET、IGBT等車規(guī)級(jí)半導(dǎo)體分立器件和模塊進(jìn)行全面測試。



        關(guān)鍵詞: 汽車芯片 功率半導(dǎo)體

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