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        使用隔離式柵極驅動器的設計指南(二):電源、濾波設計與死區時間

        作者: 時間:2023-02-08 來源:安森美 收藏

        本設計指南分為三部分,將講解如何為電力電子應用中的功率開關器件選用合適的隔離,并介紹實戰經驗。上次為大家梳理了隔離式的介紹和選型指南,本文為第二部分,將帶大家全面了解使用(onsemi)隔離式的電源、濾波設計以及死區時間控制。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202302/443124.htm

        電源建議

        以下是使用隔離式柵極驅動器電源時應注意的一些建議。VDD 和 VCC 的旁路電容對于實現可靠的隔離式柵極驅動器性能至關重要。

        建議選擇具有適當電壓額定值、溫度系數和電容容差的低 ESR 和低 ESL 表面貼裝多層陶瓷電容 (MLCC)。柵極驅動器的輸出偏置電源引腳需要旁路電容,其值至少應為開關器件柵極電容的 10 倍,并且不小于 100 nF;此電容應位于盡可能靠近該器件的地方,以用于解耦。建議使用 2 個電容:一個 100 nF 陶瓷表面貼裝電容和一個并聯的幾微法電容,如圖 1 所示。

        同樣,輸入側的 VDD 和 GND 引腳之間也應放置一個旁路電容。考慮到輸入側的邏輯電路會消耗少量電流,此旁路電容的最小建議值為 100 nF。

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        圖 1. 電源示意圖

        使用隔離式柵極驅動器時的輸入濾波設計

        為了獲得良好的信號質量和抗擾度,可以在微控制器和柵極驅動器輸入之間放置一個輸入濾波器 RC 網絡,如圖 2 所示。

        電力電子應用中經常使用的濾波方法有兩種:

        ●   控制輸入端的 RC 濾波器;

        ●   具有較短延遲時間的 RC 濾波器與柵極驅動器本身集成的精密濾波器的組合。

        RC 值將取決于系統要求的輸入頻率范圍、占空比和時間延遲。

        ●   由最大 100 pF 電容和最多 100Ω 電阻構成的小容性濾波器可抑制驅動器輸入端的高頻噪聲。濾波器電容抑制共模噪聲。

        ●   濾波器電阻有助于保護控制器。串聯電阻會限制接地反彈期間流入流出控制器的電流,減弱柵極驅動線的寄生電感(它可能導致振鈴),并有助于抑制任何由長輸入走線吸收的 EMI。

        ●   此 RC 濾波器需要放在盡可能靠近柵極驅動器引腳引線的地方。高壓輸出電路的共模瞬變噪聲可能會干擾低壓輸入側。數字控制輸入應使用低阻抗信號源以防止出現毛刺或造成意外開關。

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        圖 2. 用于輸入信號的 RC 網絡示例

        其他輸入引腳(如 ANB、DT 和 ENA/DIS)也需要適當濾波,以使系統穩健。由于功率級瞬變電壓和電流的電磁干擾 (EMI),輸入濾波不當可能導致各種不良影響。

        例如,圖 3 顯示了 ANB 引腳浮空時的工作波形,上方圖片沒有濾波,下方圖片則使用了適當濾波。如實驗結果所示,在沒有旁路電容的情況下觀察到噪聲信號,而當靠近此引腳使用 1 nF 以上的旁路電容時,噪聲信號消失。

        輸入信號引腳的阻抗通常為 200 kΩ;禁用 (DISABLE) 時,ANB 和 ENA/DIS 引腳被拉到 GND 引腳,如圖 4 所示。但使能 (ENABLE) 時,ENA/DIS 引腳被拉到 VDD 引腳,如圖 5 (B) 所示。

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        圖 3. 元件濾波對 ANB 引腳的影響

        驅動器引腳的噪聲可能會耦合到輸入引腳(ANB 和 ENA/DIS)上,導致驅動器對瞬變作出反應,而不是對輸入 PWM 信號作出響應。這可能會造成驅動器輸入和輸出出現不良行為,并且可能會降低系統性能。

        此外,如果驅動器的 ANB 和 ENA/DIS 引腳之間的距離較長,那么需要更加注意驅動器的布局和濾波,以避免這種不良行為。

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        圖 4. AND 示例,ENA/DIS 引腳浮空

        如果需要 ENA/DIS DISABLE 和 ANB 功能,應使用約 1nF 的低 ESR/ESL 電容,以改善整體系統性能。以下總結了 ENA/DIS 和 ANB 引腳浮空時的注意事項。

        ENA/DIS 引腳:如果不使用 ENA/DIS 引腳,應將其直連 VDD 或 GND 引腳以分別實現 ENABLE 或 DISABLE 功能。當使用 ENA/DIS 引腳提供 ENABLE 或 DISABLE 功能時,如果無法將 ENA/DIS 引腳連接到 VDD 或 GND,那么建議將數十 kΩ(如 10 kΩ ~ 47 kΩ)的外部上拉或下拉電阻連接到 VDD 或 GND 引腳,以實現更好的抗擾度,分別如圖 5 (B) 和 (C) 所示。

        當使用控制器驅動幾英寸或更長距離外的 ENA/DIS 引腳時,需要將低 ESR/ESL 的 1 nF 電容放置在引腳附近。

        在需要快速禁用響應時間的情況下,應使控制器更靠近驅動器,使用高驅動強度輸出,并最大程度地減少柵極驅動環路中的雜散電感。

        ANB 引腳:如果不使用 ANB 引腳,應將其直連 GND 引腳,或使用 1 nF 電容。如果無法將 ANB 引腳連接到 GND,那么建議使用數十 kΩ(如 10 kΩ ~ 47 kΩ)的外部下拉電阻,以防止外部干擾導致 ANB 功能意外激活(盡管其內部有 3.3μs 濾波器),如圖 5 (A) 所示。

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        圖 5. ANB、ENA/DIS 引腳適當濾波的示例

        可編程死區時間控制

        只要兩個外部輸入信號的死區時間(INA 和 INB 信號之間)比內部設置的死區時間(DT1 和 DT2)短,系統就會自動插入死區時間。否則,如果外部輸入信號死區時間大于內部死區時間,則柵極驅動器不會修改死區時間。內部死區時間定義如圖 6 所示。

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        圖 6. 內部死區時間定義

        圖 7 顯示了輸入信號同時施加時內部死區時間和防止擊穿的定義。

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        圖 7. 內部死區時間定義

        在模式 A 下,當 DT 引腳開路時,最小死區時間 (tDTMIN) 典型值為 10 ns,不允許驅動器兩個輸出(OUTA 和 OUTB)之間交叉導通。在模式 B下,當 DT 引腳電阻在 1 k 和 300 k 之間時,外部電阻 (RDT) 控制死區時間。

        當激活死區時間 (DT) 控制模式時,不允許重疊。

        兩路輸出之間的死區時間 (DT) 根據下式設置:DT(單位為 ns)= 10 × RDT(單位為 kΩ)。

        在模式 C下,當 DT 引腳被拉至 VDD 時,允許兩個輸出重疊,如圖 8 所示。

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        圖 8. 死區時間模式控制的時序圖

        死區時間 (DT) 引腳浮空

        當 DT 引腳浮空時,建議將 DT 引腳直連 GND 引腳,或使用 2.2 nF 電容,分別如圖 9 的中間和下方圖形所示。

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        圖 9. ANB、ENA/DIS 引腳適當濾波的示例

        如圖 10 所示,當 DT 引腳浮空時,最小死區時間 (tDTMIN) 典型值為 10 ns,不允許驅動器兩個輸出(OUTA 和 OUTB)之間交叉導通。

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        圖 10. DT 引腳浮空時的實驗波形

        可編程死區時間 (DT) 

        如果通過死區時間控制電阻對死區時間進行編程,應并聯放置一個值大于 2.2nF 的電容,以提高快速開關瞬變期間的抗擾度,如圖 11 所示。

        當 DT 引腳電阻在 1 kΩ 和 300 kΩ 之間時,外部電阻 (RDT) 控制死區時間。圖 12 顯示了 DT 引腳具有 100 kΩ 電阻時的實驗結果。

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        圖 11. 死區時間引腳適當濾波的示例

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        圖 12. DT 引腳具有 100 kΩ 電阻時的實驗波形

        無死區時間以允許交叉導通

        如果無需死區時間,應將死區時間引腳連接到 VDD 以停用 DT 電路,如圖 13 所示,實驗結果如圖 14 所示。

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        圖 13. 將DT 引腳連接到VDD引腳以停用DT電路的示例

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        圖 14. DT 引腳短接 VDD 時的實驗波形

        死區時間 (DT) 引腳浮空時的考量

        死區時間控制功能根據 DT 引腳電壓提供三種工作模式。

        當 DT 引腳浮空時,在浪涌測試期間(如雷擊浪涌)DT 引腳上可能有異常噪聲。盡管 DT 引腳內部對于開路和短路檢測分別有 3μs 和 2μs 的濾波時間,但如果 DT 引腳電壓受噪聲信號影響而超過額定電壓電平,死區時間控制模式仍會變為模式 C,因為死區時間控制模式變更取決于 DT 引腳電壓。

        例如,如果 DT 引腳電壓低于 0.9 × VDD,則當 DT 引腳浮空時,死區時間具有最小值(典型值 10 ns),DT 引腳的穩態電壓約為 0.8 V。

        如果噪聲導致 DT 引腳電壓超過 0.9 × VDD 且持續 3μs 以上,死區時間控制模式會被禁用,這意味著兩個通道之間沒有死區時間,如圖 15 所示。

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        圖 15. DT 引腳浮空時的異常波形

        因此,建議為 RDT 增加一個 2.2nF 或以上的陶瓷電容 (CDT),并使其靠近芯片,以實現更好的抗擾度和兩個通道之間更好的死區時間匹配,如圖 16 所示。

        主要考量是通過 RDT 的電流用于設置死區時間,此電流隨著 RDT 值的增大而減小。

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        圖 16. 死區時間的更詳細框圖

        測試結果顯示,對于 5 V 情況的 VDD,當 DT 引腳浮空且外部施加的電壓低于 0.9 × VDD 時,死區時間控制模式不變,即仍為模式 A,如圖 17 所示。

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        圖 17. DT 引腳浮空且外部施加的電壓低于 0.9 × VDD 時的實驗波形

        但是,對于 5 V 情況的 VDD,當 DT 引腳浮空且外部施加的電壓高于 0.9 × VDD 并持續 3μs 以上時,死區時間模式從模式 A 變為模式 C,例如圖 18 中的情況 B 所示。如情況 A 所示,針對 DT 引腳開路檢測,其內部有 3μs 濾波時間,因此死區時間控制模式并未改變,防止擊穿功能仍在運行。

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        圖 18. DT 引腳浮空且外部施加的電壓高于 0.9 × VDD 時的實驗波形



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