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        研討會訊息:Teradyne/筑波科技寬能帶半導體整合測試與應用

        作者: 時間:2022-11-07 來源:電子產品世界 收藏

        電動車、快充帶動第三代半導體碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)國際市場快速發展趨勢、儲能設備及高效能控制機臺,需要更多強韌的運算芯片與電源管理IC功率組件,專注為高精準、高穩定度,高速、低單位IC成本與強大工程經驗支持能力是攸關 POWER IC 研發及OSAT 成功的關鍵能力。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202211/440124.htm

         

        與美商泰瑞達合作,攜手推廣Eagle Test System (ETS)設備系列。因應測試芯片機臺需求逐年成長,提供高質量檢驗、快速精準,降低測試成本、提升產能的ETS設備,具有高功率(>3000V)、高電流(>100A)、耐高溫、精準穩定之特色。則結合材料分析MA與故障瑕疵分析FA、封裝FT測試與設備整合經驗,為客戶開發整合測試解決方案(Total Solution),并設立EC半導體工程中心提供高質量的訓練與服務。

         

        ETS將主要聚焦實務分享:

        1. Teradyne Device Interface Solution Business Overview

        2. GaN and IGBT Probe Interface Solution Overview

        3. WBG Market Trend and Teradyne Eagle System Introduction Practice

        4. ACE Universal for SiC/GaN Wafer MA Test Solutions

        5. Brief the Specific Functions for Power IC ATE Machines by HT

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