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        燦芯半導體推出高精度16位SAR ADC

        作者: 時間:2022-06-09 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

        一站式定制芯片及供應商——燦芯半導體日前宣布推出高精度16位逐次逼近型(16bit SAR)。該首個測試芯片基于中芯國際55nm工藝流片成功,現(xiàn)已完成EVB測試,可提供給客戶進行評估。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202206/434980.htm

         采樣率為1MHz, ENOB(有效位)可達14bit,通常情況下其DNL(微分線性誤差)介于-0.4LSB0.47LSB之間,INL(積分線性誤差)居于-1.8LSB2.2LSB之間,其典型功耗是4.25mA,性能指標處于國內(nèi)領(lǐng)先水平。

        燦芯半導體深耕高精度12/14/16 bit SAR 及高速(>150M) PIPELINE ,為工業(yè)級高精度應用提供了更豐富的選擇。基于SAR ADC技術(shù)的定制芯片累計出貨已近3000萬顆,可廣泛應用于工業(yè)控制、能源及AIoT等領(lǐng)域。

        “16bit高精度SAR ADC的發(fā)布,對燦芯半導體而言,是技術(shù)層面上的又一次突破,” 燦芯半導體工程副總裁劉亞東表示,另外,燦芯半導體還不斷拓展創(chuàng)新,將這個技術(shù)實施到SMIC 40nm工藝,同時不斷迭代優(yōu)化,減少面積功耗,提升采樣速率,力爭滿足客戶的多層次需求。




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