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        概述新一代場截止陽極短路IGBT

        作者: 時間:2018-09-03 來源:網絡 收藏

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/201809/388319.htm

          圖3顯示新陽極短路器件(FGA20S140P)、前代器件(FGA20S120M)和最佳的競爭產品之間的典型輸出特性對比。在額定電流20 A的條件下,FGA20S140P的飽和電壓VCE(sat)是1.9 V,而FGA20S120M的飽和電壓是1.55 V,最佳競爭產品的飽和電壓是1.6 V。圖4顯示反向恢復性能對比結果。SA IGBT的反向恢復性能稍遜于與IGBT共封裝的超快速恢復二極管(UFRD)。幸運的是,較高的VCE(sat)并不會對感應加熱(IH)應用造成危害。

          

          圖4: 反向恢復性能對比

          采用已針對感應加熱應用優化了的先進場截止陽極短路技術,Fairchild最新的二代FS T SA IGBT技術,與以前版本相比,不僅顯著提高了擊穿電壓,而且提高了開關性能;即使如此,VCE(sat)還是稍顯偏高。采用軟開關測試設備得到的關斷特性對比如圖5所示。FS T SA IGBT的關斷能為573μJ ,而前一代FGA20S120M的關斷能為945μJ,而最佳競爭產品的關斷能則為651 μJ。因此,在此模擬感應加熱應用的特定軟開關測試中,新一代FS T SA IGBT器件的關斷能至少減少了12%!

          

          圖5: Eoff對比

          每個器件的關鍵參數對比如表1所示。

          表1:關鍵參數對比

          

          * 在Ioff= 40 A 和dv/dt = 140.1V/μs條件下測量

          總結

          本文介紹以類似MOSFET的方式內嵌固有體二極管的最新一代陽極短路IGBT.與最佳競爭產品和前代產品相比,該器件具有Eoff較小的特性。總之,新器件使得FS IGBT更適用于不需要高性能反向并聯二極管的軟開關應用。


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