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        了解CMRR及其與ADC偏移誤差的關(guān)系

        作者: 時(shí)間:2024-08-12 來源:EEPW編譯 收藏

        了解共模抑制比()的變化如何影響模數(shù)轉(zhuǎn)換器()的性能。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202408/461916.htm

        在不同的應(yīng)用中,如傳感器測(cè)量系統(tǒng)和通信系統(tǒng),我們觀察到輸入端的共模信號(hào)不是恒定的。共模電壓的變化可能是由于噪聲分量引起的,該噪聲分量同樣耦合到的兩個(gè)輸入端,或者源于正常的電路操作。

        在本文中,我們將看到共模電平的變化如何影響ADC的性能。

        為什么ADC的共模抑制很重要?

        圖1顯示了RTD測(cè)量的簡(jiǎn)化圖。

        RTD測(cè)量的示例圖。

         

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        圖1. RTD測(cè)量的示例圖。圖片由德州儀器公司提供

        在上述示例中,激勵(lì)電流源迫使固定電流流過RTD和參考電阻器RREF。RTD上的電壓由ΔΣ(delta-sigma)ADC直接測(cè)量。RREF上的電壓也用于提供ADC的參考電壓,從而實(shí)現(xiàn)比率測(cè)量。

        除了提供參考電壓外,RREF電平將RTD電壓移至ADC指定的輸入共模范圍內(nèi)。讓我們考慮一個(gè)100Ω鉑RTD系統(tǒng)的一些典型值。假設(shè)ADC使用單個(gè)3.3V電源工作,激勵(lì)電流為1mA。通常,中間電源在ADC的共模范圍內(nèi)。基于這個(gè)假設(shè),我們可以使用RREF = 1.6 kΩ將RTD信號(hào)電平移至1.6 V,這接近電源電壓的中點(diǎn)。

        接下來,假設(shè)RTD溫度從-100°C變化到400°C,RTD電阻從60.256Ω變化到247.092Ω。在這個(gè)例子中,AINN輸入保持在1.6V,而AINP輸入在指定的溫度范圍內(nèi)從大約1.66V變化到1.847V。如果我們假設(shè)在假設(shè)的應(yīng)用中溫度變化遵循正弦波形,則AINN和AINP的電壓類似于圖2所示的波形。

        示例應(yīng)用圖顯示了AINN、AINP和共模電壓的電壓與時(shí)間的關(guān)系。

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        圖2:示例應(yīng)用圖顯示AINN、AINP和共模電壓的電壓與時(shí)間的關(guān)系。

        上圖中的綠色曲線顯示了AINN和AINP的平均值,這是輸入端所經(jīng)歷的共模電壓。在這個(gè)例子中,共模電壓不是恒定的,變化了大約100 mVp-p。在理想情況下,這應(yīng)該不是問題。理想的差分ADC測(cè)量其兩個(gè)輸入端之間的電壓差,并完全消除任何共模信號(hào),如圖3所示。

        一個(gè)示例ADC測(cè)量其兩個(gè)輸入之間的電壓差,消除共模信號(hào)。

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        圖3. ADC測(cè)量其兩個(gè)輸入之間的電壓差,消除共模信號(hào)的示例。圖片由Microchip提供

        然而,在現(xiàn)實(shí)世界的ADC中,共模信號(hào)只是被衰減,而不是被完全抑制。共模抑制比()是一個(gè)重要的規(guī)格,它表征了ADC阻止共模信號(hào)出現(xiàn)在ADC輸出端的能力。

        ADC共模抑制比方程

        傳統(tǒng)教科書中對(duì)共模抑制比()的定義是電路的差模增益(Adiff)與共模增益(Acm)之比。從數(shù)學(xué)上講,我們得到方程式1:

         4.png

        方程式1。

        在ADC的上下文中,差模增益是ADC線性模型的斜率,定義為輸出碼變化與差分輸入變化之比。同樣,Acm是通過將輸出碼變化除以輸入共模信號(hào)變化來求得的。除了輸出碼變化,我們還可以使用輸出碼變化的模擬等效值來求得Acm、Adiff和CMRR。CMRR通常使用等式2以dB表示:

         5.png

        方程式2。

        例如,下表提供了AD4030-24的CMRR規(guī)格。

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        表1. 數(shù)據(jù)由Analog Devices提供

        該設(shè)備在10 kHz的共模信號(hào)下表現(xiàn)出132 dB的CMRR。我們稍后將討論CMRR規(guī)格的一個(gè)重要測(cè)試條件是輸入共模,CMRR是在該條件下測(cè)量的。如您所見,AD4030-24 CMRR測(cè)試的輸入共模為2.5 V。

        那么,AD4030-24具有132 dB的CMRR意味著什么呢?這意味著,假設(shè)Adiff = 1,AD4030-24在輸出端將輸入共模信號(hào)衰減了132 dB。請(qǐng)注意,CMRR規(guī)格是頻率相關(guān)的。數(shù)據(jù)表通常提供器件CMRR與頻率的關(guān)系圖。圖4顯示了AD4030-24的CMRR如何隨頻率變化。

        AD4020-24的共模抑制比(CMRR)頻率變化。

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        圖4 AD4020-24的共模抑制比(CMRR)頻率變化。圖片由Analog Devices提供

        在10 kHz以下,該設(shè)備可以提供大于132 dB的CMRR。如果您考慮特定頻率的性能,則應(yīng)考慮該頻率下的CMRR。

        共模變化引起的輸入錯(cuò)誤

        除了上述討論的方程外,我們還可以通過參考ADC輸入的共模變化產(chǎn)生的誤差來推導(dǎo)出另一個(gè)有用的方程。假設(shè)輸入共模電壓變化ΔVcm,導(dǎo)致輸出碼變化一定的值。如果輸出碼變化的模擬等效量為ΔVout,則有:

         8.png

        我們可以說,改變輸入共模ΔVcm會(huì)在ADC輸出端產(chǎn)生不想要的誤差ΔVout。為了將此誤差與輸入相關(guān)聯(lián),我們可以將其除以ADC差模增益,得到:

         9.png

        將方程式1代入上述方程式,我們得到方程式3:

         10.png

        方程式3。

        這意味著改變共模電壓ΔVcm的影響可以通過一個(gè)等于的誤差項(xiàng)來建模|ΔVcm|CMRR

        |ΔVcm|CMRR|ΔVcm|CMRR|ΔVcm|CMRR |ΔVcm|CMRR|ΔVcm|CMRR|ΔVcm|CMRR在ADC輸入端。

        請(qǐng)注意,我們使用等式1提供的CMRR定義來推導(dǎo)上述等式。如果CMRR以dB為單位給出,則應(yīng)首先使用等式2找到以V/V為單位的等效CMRR值,然后應(yīng)用等式3。

        讓我們來看一個(gè)例子。

        共模ADC測(cè)量示例:

        假設(shè)在2.5 V的共模輸入下測(cè)量ADC的不同直流規(guī)格,包括CMRR參數(shù)。對(duì)于低頻共模信號(hào),ADC的最小CMRR為100 dB。在我們的應(yīng)用中,以下信號(hào)被應(yīng)用于ADC差分輸入:

         11.png

        如您所見,ADC 在與數(shù)據(jù)表中指定的測(cè)試條件不同的共模電平下使用。這將對(duì)性能產(chǎn)生什么影響?

        在此示例中,共模輸入為3.5 V,而不是數(shù)據(jù)表測(cè)量中使用的2.5 V。通過更改共模輸入 |ΔVcm|=1|ΔVcm|=1

         產(chǎn)生一個(gè)輸入相關(guān)的誤差項(xiàng),該誤差項(xiàng)可以通過以下方式找到(方程式3):

         12.png

        請(qǐng)注意,100 dB的CMRR會(huì)產(chǎn)生

        AdiffAcm=105VVAdiffAcm=105VV,在上述方程式中使用。

        這個(gè)例子表明,將輸入共模電壓改變一個(gè)固定值會(huì)導(dǎo)致恒定的輸入?yún)⒖颊`差。換句話說,我們可以通過ADC的變化來模擬共模值的恒定變化。在上面的例子中,如果數(shù)據(jù)表(在輸入共模電壓為2.5V時(shí)指定)為±30μV,那么我們現(xiàn)在預(yù)計(jì)它會(huì)增加到±40μV。

        在ADC輸出端,可以很容易地校準(zhǔn)出恒定的。然而,變化的共模電壓會(huì)導(dǎo)致ADC輸入端出現(xiàn)變化的誤差。共模變化可能是由共模噪聲引起的,例如來自電力線的50/60 Hz噪聲,或者它們可能僅僅源于我們系統(tǒng)的正常運(yùn)行,就像文章開頭討論的RTD測(cè)量系統(tǒng)一樣。

        關(guān)于ADC輸入共模范圍的一點(diǎn)說明

        不同的ADC被設(shè)計(jì)用于支持不同的輸入共模范圍。許多全差分逐次逼近寄存器(SAR)ADC的輸入共模范圍僅限于VREF/2附近的小范圍。典型范圍為(VREF/2)±100 mV。在這些情況下,我們需要將前一級(jí)的輸出共模保持在ADC的共模范圍內(nèi)。圖5顯示了如何使用具有輸出共模引腳(Vocm)的全差分放大器(FDA)將FDA輸出的共模電平固定在VREF/2。

        圖表顯示了一個(gè)全差分放大器,帶有一個(gè)輸出共模引腳,用于固定共模電平。

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        圖5. 示意圖顯示了帶有輸出共模引腳的全差分放大器,用于固定共模電平。圖片由德州儀器(TI)提供

        此外,還有輸入共模范圍較寬的SAR ADC。這種類型的例子(圖6)是Analog Devices的LTC2311-16。

        LTC2311-16的方框圖。

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        圖6 LTC2311-16的框圖。圖片由Analog Devices提供

        該器件的寬輸入共模范圍允許不同的輸入配置,例如如下所示的偽差分單極配置。請(qǐng)注意,在此示例中,輸入共模從0變化到VREF/2。

        另一方面,大多數(shù)ΔΣ ADC的設(shè)計(jì)目標(biāo)是提供比SAR ADC相對(duì)較大的輸入共模范圍。由于許多ΔΣ ADC內(nèi)置了可編程增益放大器(PGA),應(yīng)注意的是,如果我們配置PGA以更高的增益運(yùn)行,ADC的共模范圍可能會(huì)更小。

        ADC電源抑制比(PSRR)

        電源抑制比(PSRR)是ADC抑制電源變化的能力。與CMRR效應(yīng)類似,有限PSRR的效應(yīng)可以建模為ADC輸入端的誤差源。在這種情況下,輸入?yún)⒖颊`差由下式給出:15.png

        解釋:

        |ΔVps|表示電源電壓的變化。




        關(guān)鍵詞: CMRR ADC 偏移誤差

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