Mentor Tessent VersaPoint 測試點技術幫助 Renesas 降低成本和改進質量

　　Mentor, a Siemens business 今日宣布在 Tessent? ScanPro 和 Tessent LogicBIST 產品中推出 VersaPoint? 測試點技術，這些產品仍舊符合 ISO 26262 質量認證要求。VersaPoint 測試點技術不僅能夠降低制造測試成本，還能改進在系統測試的質量——對于汽車和其他行業的高質量 IC 而言，這兩條要求至關重要。Mentor 還宣布 Renesas Electronics 已經在該公司的汽車 IC 中采用了 VersaPoint 技術，以解決安全關鍵的測試要求，從而達到汽車安全完整性級別 (ASIL) C 和 D 認證標準。

　　汽車 IC 中的數字電路通常混合采用片上壓縮/ATPG 和邏輯內建自測 (LBIST) 技術來進行測試，從而讓制造測試達到極高的缺陷覆蓋率，進而實現在系統測試和上電自測試。

　　測試點是用于改進測試效果的專用設計結構。傳統的 LBIST 測試點通過解決 IC 中的“隨機模式障礙”來改進測試結果。Mentor 近期專門針對片上壓縮/ATPG 的混合使用開發了測試點，相對于僅使用片上壓縮的情況，可將 ATPG 模式數減少 2-4 倍。Tessent VersaPoint 測試點技術組合了這些技術，并在它們的基礎上進行了改進。

　　“為了提供業界領先的汽車 IC 產品，Renesas 使用測試點來幫助達到嚴格的 IC 測試要求，”Renesas Electronics Corporation 汽車 SoC 業務部門副總裁 Hisanori Ito 說道。“利用 Tessent VersaPoint 測試點技術，我們再也無需針對不同類型的 IC 使用單獨的解決方案。如此一來，只需通過制造和在系統測試，我們便能改進質量并降低成本。簡化的 DFT 實施流程還可縮短開發周期，加快產品上市時間。”

　　與傳統的 LBIST 測試點相比，Tessent VersaPoint 技術可以提高 LBIST 測試覆蓋率。而與使用片上壓縮/ATPG 測試點相比，它還可以更好地減少 ATPG 模式數。這種技術是專為使用 Tessent 混合 ATPG/LBIST 技術的測試工程師而設計的，旨在降低測試成本、改進測試質量，特別是針對面向汽車應用的 IC 產品。

　　“隨著設計尺寸不斷增長，質量要求變得更加嚴格，我們的客戶也一直在努力降低測試成本”，Mentor Tessent 產品系列營銷總監 Brady Benware 說道。“與此同時，市場對高可靠性應用中的高效在系統測試的需求也在持續增長。借助 VersaPoint 測試點技術，我們的客戶可以通過更有效的方法，同時滿足制造和在系統測試要求。”