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        功率因數校正最佳策略:如何選取合適的MOSFET?

        作者: 時間:2017-10-31 來源:網絡 收藏

          導讀:近年來,隨著汽車、通信、能源、綠色工業等大量使用的 行業的快速發展,功率備受關注。廣泛使用在模擬電路與數字電路中,對于工業市場而言,較高的電流會增加系統中的能量損耗,舉例對電力公司來說,這會導致輸電過程中的過量浪費。而要達到完全相同的輸出功率,較低的負載比較高的負載會消耗更多無功電流。所以,為校正應用,選擇合適的MOSFET器件尤其重要。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/201710/369663.htm

          功率因數是實際功率(P = 瓦特)與視在功率(VA= 伏安)之比;目標是實現盡可能接近1的功率因數。要達到完全相同的輸出功率,功率因數較低的負載比功率因數較高的負載會消耗更多無功電流。較高的電流會增加系統中的能量損耗,對電力公司來說,這會導致輸電過程中的過量浪費。為此,對于輸出功率為75 W或更高(依據EN61000-3-2標準)的任何電源,圖1所示的功率因素校正 (PFC) 電路塊都是一個重要而且常常是必不可少的子系統。PFC電路塊用于使輸入線電流與AC電壓波形一致,且在大多數情況下將輸出電壓升高至標準的400 VDC。圖2顯示了PFC電路對線電流及其諧波電流的影響。

          

        圖1:PFC原理圖

          

          圖2A:無PFC情況下的線電壓及電流 圖2B:有PFC情況下的波形

          在圖2A中,電流來自AC電源且只持續周期的較短時間。這導致較低的功率因數和115%的過量諧波電流。雖然系統只消耗158 W可用功率,但傳輸系統的相關值需要達到272 VA才能提供這一功率。圖2B顯示了使用相同輸入功率曲線來實現PFC的優點。在功率因數為99.9%的情況下,諧波電流降至3%。電流來自AC線路且持續整個周期,同時也沒有過量的VA浪費。

          應當注意的是,PFC與諧波電流減少并非同義詞。例如,在高電感性負載情況下,電流可能是滯后于電壓的完美正弦曲線。因此其將具有較低的功率因數和高無功功率,且沒有任何諧波電流。而諧波電流多的失真波形通常具有所有不良特性。PFC電路不僅能夠校正功率因數,還有助于減少諧波電流。目前,關于電子設備功率質量有許多不同的標準。EN61000-3-2要求所有輸入功率》 75 W的系統減少諧波電流。80 Plus電源認證要求功率因數達到0.9或更高。

          在PFC電路中,MOSFET損耗約占總損耗的20%左右。通過選擇正確的器件,PFC效率能夠得到大幅提升。為PFC電路選擇合適MOSFET器件的一種方法是使用針對特定應用的品質因數 (FOM),來最小化器件的總損耗。雖然FOM包括針對傳導損耗的導通電阻值(RDS(on)) 和針對開關損耗的柵極電荷值 (Qg),但其并非二者的簡單積。為了說明開關損耗,使用了該器件的Qgs和Qgd的一部分以及其輸出電容值 (Coss)。

          標準AC/DC電源的四個級是:

          · 輸入

          · PFC前端

          · 轉換器

          · 次級

          本文選自電子發燒友網6月《智能工業特刊》Change The World欄目,轉載請注明出處!
          

          為滿足80 Plus“金級”效率標準的要求,所有級的合并損耗是額定輸出功率的約12%。單純PFC MOSFET損耗應限制到總輸出功率的約2%或封裝功率限值,(以二者中的較低者為準)。“TO”封裝的最大功率損耗限值為:

          · PowerPAK®SO-8L (5x6): 5W

          · PowerPAK®8x8: 7W

          · TO-220/TO-220F: 10 W

          · TO-247: 20W

          · Super TO-247/Tmax: 25W

          因此,由傳導損耗和開關損耗構成的最大封裝功率限值不應超過上述水平。傳導損耗用公式I2*R來計算,其中考慮到了器件的RDS(on)以及其溫度系數。開關損耗不僅需要考慮Qg、Qgd和Qgs,還需要考慮Qoss,Qoss是Coss的積分函數。

          傳統的FOM,即RDS(on)(典型值)*Qg(典型值)并不考慮器件的Coss/Qoss,但這是一個非常重要的損耗,特別是在開關損耗大于傳導損耗的輕負載情況下。開關損耗的這一成分是在充電(當器件斷電時)和放電(當器件通電時)情況下產生的,必需在設計中加以考慮。Coss/Qoss越大,開關損耗就越大。此外,Qoss損耗是固定的并且獨立于負載,這一點可從標準公式Poss = ½ CV2 x Fsw中看出,其中Fsw是開關頻率。

          在通用輸入電源中,PFC MOSFET始終受到380 VDC至400 VDC的主體 (bulk) DC總線電壓的限制。因此,輸出開關損耗有可能在總損耗中占相當大的比例。高壓MOSFET (HVM)的Coss隨著所施加的VDS的不同而有相當大的變化。為說明輸出電容器的非線性,可以使用Poss = ½ Coer x V2 x Fsw作為損耗計算公式。Coer是由產品說明書提供的有效電容,與MOSFET的集成Coss具有相同的存儲能量和相同的損耗。所以,新FOM現在為Rds(on)(典型值) * (Qswitch (典型值) + Qoss),其中Qswitch是Qgd和Qgs的組合。

          例如,我們使用一個最大封裝功率損耗為8 W且對傳導損耗和開關損耗的貢獻各為4 W的TO-220 / TO-220F器件。這樣Coss/Qoss損耗將占到總封裝損耗的約20%,或總開關損耗的約40%,這是標準FOM公式沒有加以考慮的一個較大損耗。

          由于有許多可用封裝選項,所以表1列出了針對不同封裝的最大功率額定值。請注意,每種封裝都有一系列器件可供選用,所以有可能對廣泛的輸出功率推薦相同的封裝。為了實現SMT封裝(如PowerPAK®SO-8L (5x6) 和PowerPAK®8x8)的最大可能功率耗散,有必要將PCB溫度保持在最壞條件下的應用要求值。建議最大額定值因此受到系統熱考慮事項而非封裝損耗的限制。

         
        表1:各封裝類型下的最大功率級

          本文選自電子發燒友網6月《智能工業特刊》Change The World欄目,轉載請注明出處!



        關鍵詞: MOSFET 功率因數 Vishay

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