基于MSP430與FPGA的多功能數(shù)字頻率儀設(shè)計*

作者/ 任歡 顏逾越 廈門大學(xué)嘉庚學(xué)院 信息科學(xué)與技術(shù)學(xué)院(福建 漳州 363105)

摘要：本文采用以FPGA為主，MSP430為輔的框架系統(tǒng)處理方式設(shè)計了多功能數(shù)字頻率儀。該裝置采用低頻直接測周期，高頻等精度多周期同步測量的方法，通過進(jìn)一步優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)時鐘頻率的設(shè)置，克服了傳統(tǒng)測頻方法在高精度要求方面的缺陷。將MSP430作為控制處理核心、FPGA作為信號處理單元，將高效控制與快速運(yùn)算能力相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)正弦波頻率、兩路方波信號時間間隔以及矩形脈沖占空比的測量。測試表明，該裝置具有高精度、高穩(wěn)定性、裝配簡易和操作便利的特點(diǎn)。

引言

　　隨著電子產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，新興產(chǎn)業(yè)對頻率等參量測量結(jié)果的快速性、穩(wěn)定性、精確性等性能指標(biāo)提出了更高的要求^[1]。目前，信號頻率的測量已有多種測量方案，如過零檢測法^[2]、離散傅里葉變換^[3]、離散卡爾曼濾波^[4-5]等。其中存在對高頻信號的快速測量的局限性、頻譜泄漏^[6]以及準(zhǔn)確性有待提高^[7]等問題。本文采用高速現(xiàn)場可編程邏輯陣列(FPGA)及超低功耗單片機(jī)(MCU)，結(jié)合多周期測量原理，通過進(jìn)一步優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)時鐘信號頻率的設(shè)置，使用低頻時鐘計數(shù)法直接測周期，高頻等精度多周期同步測量法測頻率的方法，實(shí)現(xiàn)對待測信號頻率、占空比、兩路信號時間間隔等參量的高精度測量。

1 系統(tǒng)設(shè)計思路

　　1.1 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)

　　系統(tǒng)由Altera公司CycloneII EP2C8Q208C8型號FPGA、TI公司MSP430F5529型號MCU、外圍電路模塊、顯示模塊、按鍵模塊和電源模塊構(gòu)成，系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)如圖1所示。其中，MCU是本系統(tǒng)的控制中心，主要負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)接收、邏輯處理和命令傳達(dá);FPGA是本系統(tǒng)的核心測量模塊，主要負(fù)責(zé)利用由其內(nèi)含的計數(shù)模塊而構(gòu)成的等精度頻率測量模塊、高電平時間計數(shù)模塊、低電平時間計數(shù)模塊、時間間隔測量模塊進(jìn)行高頻信號的頻率、低頻信號的周期、單路方波信號的占空比和兩路方波信號時間間隔的測量，并根據(jù)MCU給定的控制信號，通過SPI協(xié)議發(fā)送相應(yīng)的測量數(shù)據(jù)至MCU中;外圍電路模塊是本系統(tǒng)的輸入信號調(diào)理模塊，主要負(fù)責(zé)將待測信號f(x)通過一系列的放大、整形等處理輸出為FPGA可直接判別并計數(shù)的方波信號;顯示模塊主要用于已測得信號的頻率、占空比、時間間隔等參量的顯示，并由按鍵模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)刷新。

　　1.2 時間及頻率測頻原理

　　等精度頻率測量法是指在給定一種標(biāo)準(zhǔn)時鐘信號的情況下，通過對待測信號的上升沿進(jìn)行多次識別及計數(shù)，從而得到待測信號頻率的方法。等精度頻率測量法的原理圖如圖2所示，若待測信號在標(biāo)準(zhǔn)時鐘信號上升沿個數(shù)為m的T秒時間內(nèi)，上升沿個數(shù)為n個[8]，則待測信號頻率為：

(1)

　　其中，f_x為待測信號頻率，f_s為標(biāo)準(zhǔn)時鐘信號頻率。

　　將式(1)進(jìn)行微分及相應(yīng)變換可得：

　　其中，d_fs/f_s為標(biāo)準(zhǔn)信號誤差，即晶振誤差，由于晶振穩(wěn)定性高，這一部分誤差可忽略不計。

　　則頻率測量誤差為：

(4)

　　由此可見，理論中測量誤差與待測信號頻率參數(shù)無關(guān)[9-10]，增長標(biāo)準(zhǔn)時鐘信號的同步時間T或增大時鐘信號的頻率皆可進(jìn)一步提高測量精度，且等精度測頻法無法對頻率低于1/T低頻信號進(jìn)行測量。另一方面，在實(shí)際測試中，F(xiàn)PGA計數(shù)結(jié)果可能因硬件延遲存在著兩個計數(shù)值的固定誤差，則有實(shí)際誤差為：

(5)

　　若要求測量誤差小于η時，則符合精度的待測頻率f_x的最小值為：

(6)

　　直接測周法是一種對待測信號一個周期內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)時鐘信號進(jìn)行計數(shù)，從而測量待測信號頻率的方法，其測量原理圖如圖3所示。若標(biāo)準(zhǔn)時鐘信號在待測信號一個周期內(nèi)上升沿個數(shù)為m個[11]，則待測信號頻率為：

(7)

　　同理可得：

(8)

　　同理，省略掉晶振誤差，且考慮FPGA硬件延遲后，可得直接測周法的測量誤差為：

(9)

　　由此可見，理論中測量誤差與待測信號頻率參數(shù)有關(guān)，若要求測量誤差小于時，則符合精度的待測頻率fx最大值為：

(10)

　　若要對低頻段采用直接測周法，高頻段采用等精度測頻法實(shí)現(xiàn)對整個通帶的信號頻率測量，則必須有，即必須將標(biāo)準(zhǔn)時鐘信號頻率設(shè)置為：

本文來源于中國科技期刊《電子產(chǎn)品世界》2016年第9期第65頁，歡迎您寫論文時引用，并注明出處。