SSD前景因延遲和錯誤率蒙上陰影

加州大學和微軟的研究發現，隨著芯片尺寸縮小，NAND Flash記憶體會出現顯著的性能退化。當電路尺寸從今天的25nm縮小到6.5nm，SSD的延遲會增加一倍。

加州大學的研究生Laura Grupp說，他們測試了7家SSD供應商的45種不同類型NAND Flash芯片，這些芯片采用了72nm到25nm的光刻工藝，發現芯片尺寸縮小伴隨著性能退化和錯誤率增加。TLC (三層存儲單元)NAND的性能最差，之后是MLC(雙層存儲單元)NAND和SLC(單層存儲單元)NAND。研究人員說，由于性能退化，基于MLC NAND的固態硬盤難以超過4TB，基于TLC NAND的固態硬盤難以突破16TB，因此固態硬盤的未來之路可能在2024年到頭。