ARM學習進階（2）－SMARTARM2200調試初體驗

　　去年8月購買了ZLG的SmartARM2000，因為工作的原因，一直沒能抽空學習，到了春節前后終于可以抽空學習ARM了。我在互動出版社購買了一批書籍，希望能ARM快速入門并盡快提高。

　　開始進行ARM理論學習，我是參考ZLG的《ARM嵌入式系統基礎教程》，同時我又溫習了下C51的知識，希望在ARM中學習中能把C51也靈活掌握。

　　接著就是用SmartARM2000開發板做實驗，需要安裝ARM開發環境，具體步驟可參見本人的《ARM學習進階(1)-ARM開發環境的配置》。按配套實驗教程《ARM嵌入式系統實驗教程(二)》的要求完成了第二章的基礎實驗，由于是直接運行配套光盤的DEMO源程序，每個實驗都是針對某個功能部件，所以都比較順利。后來試著自己編了幾個程序來同時實現幾個不同部件功能，結果也還滿意。

　　為了在SmartARM2000上做基于UC/OS-II的實驗，還需要UC/OS-II 2.52的源代碼。我找出2002年買的《嵌入式實時操作系統UC/OS-II(邵貝貝譯)》配套光盤，里面正好有UC/OS-II 2.52的源代碼，這樣開發環境也具備了。按實驗教程運行DEMO源程序，運行正常。自己也試著編寫OS系統，運行基本達到預期。

　　用SmartARM2000開發板我進行了配套教程第2～4章的實驗內容，也按自己的設想完成了多個實驗，對ARM的性能有了進步的了解。但是實驗中也遇到些莫名的問題至此仍然不解，ZLG的技術支持也沒能給出滿意的答復，希望能解惑的大俠能抽空給予解答：

　　(1)JP1-ISP、JP9-OUTSIDE/INSIDE、JP10-BANK0/1設置都正確的情況下，以前在外部RAM調試方式下能正常運行的程序突然不能運行了，可這程序在外部FLASH調試方式下正常運行，用LPC2294進行內部FLASH脫機運行也正常;然后某天再用SmartARM2000開發板調試時，即使在外部RAM調試方式下也能正常運行了。這樣我折騰了半個多月都沒弄明白，后來也是莫明其妙的恢復正常的。

　　(2)UC/OS-II 操作系統實驗時，連續創建4個任務就運行不正常，將其中一個任務放在另一個任務中創建就都正常了。

　　出錯的程序

　　:

　　OSTaskCreate(Task1,(void *)0, &TaskStk1[TaskStkLength-1],1);

　　OSTaskCreate(Task2,(void *)0, &TaskStk2[TaskStkLength-1],2);

　　OSTaskCreate(Task3,(void *)0, &TaskStk3[TaskStkLength-1],3);

　　OSTaskCreate(Task4,(void *)0, &TaskStk4[TaskStkLength-1],4);

　　:

　　正確的程序

　　:

　　OSTaskCreate(Task2,(void *)0, &TaskStk2[TaskStkLength-1],2);

　　OSTaskCreate(Task3,(void *)0, &TaskStk3[TaskStkLength-1],3);

　　OSTaskCreate(Task4,(void *)0, &TaskStk4[TaskStkLength-1],4);

　　:

　　void Task2(void *pdata)

　　{ :

　　OSTaskCreate(Task1,(void *)0, &TaskStk1[TaskStkLength-1],1);

　　:

　　}

　　在用SmartARM2000開發板陸續進行的調試中，我也有些心得和體會，特記錄與此供大家分享：

　　(1)需定義向量表，配置總線(特別是PINSEL2)，初始化堆棧;

　　(2)通訊波特率計算 UxDLM,UxDLL=Fplk/(16*baud)，設置波特率時需將UxLCR的D7位-DLAB置位，退出中斷前必須讀取UxIIR來清除中斷;

　　(3)外部中斷有高/低電平觸發和上升/下降邊沿觸發等不同方式，退出外部中斷前要清除標識EXINT;

　　(4)利用工程模板建立工程后，需修改設置系統模式堆棧處的代碼為“MSR CPSR_C,#0x5F”才能使能中斷;

　　(5)ISP前需先編譯生成*.HEX文件;

　　(6)WDT需在外部FLASH或內部FLASH下脫機運行方可啟用;

　　(7)重映射的效果只有當MEMMAP=0x02時才能觀察到;

　　(8)PWM在某些場合可以作為DAC使用;

　　(9)UC/OS-II 要合理分配任務的優先級;

　　(10)ZLG的中間件挺不錯的，可以調用和學習。