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        是德科技與 Cascade Microtech 公司慶祝 25 年攜手合作,在解決客戶的半導體研發挑戰方面取得輝煌成就

        作者: 時間:2016-06-12 來源:電子產品世界 收藏

          公司和 Microtech 公司近日共同慶祝 25 年精誠合作,幫助客戶應對最棘手的半導體研發挑戰的歷史。這一合作帶來了重大的晶圓上設計和測試創新,幫助客戶加速產品上市。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/201606/292474.htm

          源自 1939 年由 Bill Hewlett 和 Dave Packard 創立的原惠普公司。Microtech 公司由 Eric Strid 和 Reed Gleason 于 1983 年創立。1990 年,兩家公司開始聯手打造產品路線圖,實現了重大技術突破。憑借 100 多年的半導體測試經驗,兩家公司的聯合創新也影響到了客戶進行晶圓上研究和設計的方式。

          Microtech 公司總裁兼首席執行官 Michael Burger 表示,“我們與長達數十年的合作,使得我們在解決客戶難題方面具有獨特的優勢。通過在開發周期的早期合作,我們能夠為客戶提供真正創新的測試解決方案,提高測量精度,交付值得信賴的結果。”

          Keysight-Cascade Microtech 客戶解決方案具有以下特點:

          ? 1991:HP/Keysight 4155 半導體參數分析儀幫助客戶進行低噪聲和漏電流測量。客戶反饋表明,需要將這些測量擴展到探針和晶圓基板。這促使 Cascade Microtech 公司開發了 MicroChamber? 技術和防護卡盤,以便在探頭和卡盤端子上進行 10 fA 以下的電流測量。客戶由此第一次能夠看到晶體管的真實漏電流。

          ? 1999:8510XF 網絡分析儀系統支持首款寬帶 110 GHz 同軸解決方案,為客戶提供最佳的整體性能,充分滿足毫米波應用中的設計和測試挑戰。同軸寬帶解決方案的引入,可以用一個寬帶單次掃描解決方案完成器件測量任務,而過去同樣的任務需要使用三套儀器和探頭,還需要進行校準。新的解決方案不僅節省了客戶的時間和金錢,同時還提供更全面、更準確的測量,測量范圍延伸至探針。

          ? 2015:完整的晶圓級測量解決方案用于快速、準確的半導體晶圓上測量,通過有保障的系統配置、安裝和支持,能節省測量時間,降低客戶風險。客戶得到保證――不會漏掉任何元器件。這個系統事先經過驗證,能提供可靠的探針性能,確保更快獲得第一手數據。

          是德科技副總裁兼總經理 Gregg Peters表示,“在過去的 25 年中,客戶能成功進行器件表征和晶圓上測量,我們兩家公司團隊合作的作用不可或缺。今天,我們既要慶祝過去的成功,也期待著在未來 25 年繼續合作,幫助我們的客戶更快將產品推向市場。”



        關鍵詞: 是德科技 Cascade

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