上海微技術工研院牽手美國國家儀器引領國內射頻及微波芯片測試技術研發

　　上海微技術工業研究院(SITRI)作為致力于“超越摩爾”半導體技術及物聯網應用研發和產業化的協同創新中心，宣布與美國國家儀器公司(National Instruments ，簡稱NI)簽署合作，聯合成立“射頻及微波芯片(RFIC/MMIC)測試技術聯合實驗室”，通過與在該領域測試技術擁有深厚積淀的NI合作，進一步提升上海微技術工研院的研發能力，引領我國RFIC/MMIC 測試技術邁向國際化水平。

　　雙方聯合成立的“RFIC/MMIC測試技術聯合實驗室”將專注于射頻及微波芯片測試技術的研究和開發，進一步推動該領域的集成測試與研發工作，包括物聯網通信領域的高性能、高集成度射頻前端通信產品研發，微波毫米波汽車雷達前端芯片的設計開發。同時，雙方將在科學研究、技術創新、人才培養等諸多方面展開緊密合作。根據合作協議，上海微技術工業研究院將負責聯合實驗室的建設管理工作。

　　上海微技術工研院一直以來積極推進科研體制改革與創新，通過與業內領先企業的緊密合作，進一步推動RFIC/MMIC 集成測試與研發工作。此次與NI的合作意味著上海微技術工研院在測試技術領域又邁出了重要一步。聯合實驗室的成立進一步確立了工研院和NI在射頻及微波芯片測試技術領域的國內領先地位，聯合實驗室不僅具備科學價值，其實驗成果在生產領域同樣具備廣泛的應用價值。

　　“NI在RFIC/MMIC測試技術領域的成就有目共睹，”上海微技術工研院總裁楊瀟表示，“和NI合作成立聯合實驗室，有助于進一步提升上海微技術工研院的測試技術和研發能力。雙方在多項領域緊密合作，相互裨益，共同推動未來測試技術領域的不斷創新與發展。”

　　美國國家儀器中國區銷售總監項曉峰表示：“NI的RF產品和解決方案可應用于從設計到測試等一系列過程，上海微技術工研院提供全方位的RF研發和產業化解決方案及物聯網生態系統，本次合作有助于NI在中國市場的發展。”