進行電平測量時需要考慮的速度問題

反饋電流測量

輸入電容對采用負反饋的電流表的影響與其對分流型安培計的影響不同。這種模式的電路示于圖2-50。

如果放大器的增益A很大，則V0 = -IINRFB 。在這種情況下，CIN不會對RFB分流。其影響與分流皮安計的情況相比是很小的。速度提高的原因是由于負反饋的作用使皮安計的輸入阻抗降低。換言之，在CIN上產生的電壓只有VS = -V0/A伏，而分流皮安計時此電壓卻為V0。所以，即使并聯在輸入端的電容很大，其對上升時間的影響也很小。

反饋型皮安計的上升時間是反饋電阻（RFB）上并聯的物理電容或寄生電容的函數。靜電計、SMU和皮安計等都可以使用比較大的源電容數值。應當認識到增大輸入并聯電容（包括源、電纜和輸入電容等的并聯效果）的數值將會使測量的信號-噪聲比降低。

電阻測量（恒流法）

輸入電容也會以同樣的方式影響電阻測量（圖2-51）。這時，CIN也必須由電流（IR）充電，因此也適用同樣的公式。

靜電計上升時間小結

對于大多數高阻源的測量來說，考慮上升時間的時候，需要盡量減小儀表輸入端并聯的電容。前面提到，這樣做同時也降低了噪聲增益。廣義地說，與儀表的反饋阻抗相比，源阻抗應當比較大。

減小輸入電容最有效的方法是用盡可能短的屏蔽電纜將靜電計、SMU或皮安計與信號源連接起來。在測量高阻源的電壓或者測量高電阻的時候，保護技術可以盡量降低輸入電容的影響。因為這時用適當的電位驅動三同軸電纜的內層屏蔽或包圍輸入端的屏蔽盒，從而盡量降低了有效電容。