中規(guī)模集成電路功能測(cè)試儀的設(shè)計(jì)
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1.4 SG3524的測(cè)試
SG3524內(nèi)部方框圖如圖5所示。輸入直流電源UIN從15腳進(jìn)入后分2路：一路作為放大器、比較器、振蕩器以及邏輯電路和控制電路的電源；另一路作為基準(zhǔn)電壓源，產(chǎn)生＋5 V基準(zhǔn)電壓輸出到16引腳，作為外部電壓基準(zhǔn)。在振蕩器部分的引腳7和引腳6上外接定時(shí)電容CT和定時(shí)電阻RT，得到所需的振蕩頻率。SG3524測(cè)試原理圖如圖6所示，連接成一個(gè)典型的降壓型開關(guān)電源電路，利用誤差放大器構(gòu)成電壓負(fù)反饋。通過改變?nèi)颖壤禂?shù)就可以改變輸出電壓，單片機(jī)通過測(cè)取引腳3上的脈沖頻率，通過MAX197測(cè)取輸出端的電壓，即可判斷SG3524芯片的好壞。測(cè)試中暫時(shí)沒有考慮過流保護(hù)功能的測(cè)試。本文引用地址：http://www.104case.com/article/195011.htm
2 操作和軟件結(jié)構(gòu)
測(cè)試儀的基本工作流程是：接通電源后，電源指示燈亮，表明電源工作正常，顯示器顯示等待測(cè)試信息，表明可以開始測(cè)試操作。由按鍵1選擇所要測(cè)試的芯片，顯示光標(biāo)停留的芯片型號(hào)表示是當(dāng)前待測(cè)芯片。每按1次選擇鍵，光標(biāo)指向下一個(gè)型號(hào)，不斷地按鍵可以循環(huán)選擇。當(dāng)光標(biāo)移到所要測(cè)試的芯片時(shí)，按下確定鍵2，接下來由單片機(jī)控制，開始自動(dòng)測(cè)試該芯片，此時(shí)對(duì)應(yīng)該芯片的指示燈亮;然后由外部電路或單片機(jī)給待測(cè)芯片一定的模擬或數(shù)字輸入量，經(jīng)過每個(gè)芯片的測(cè)試電路后，通過MAX197進(jìn)行處理（或直接送到單片機(jī)），與單片機(jī)中預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較。如果測(cè)試值在標(biāo)準(zhǔn)值附近的一定范圍內(nèi)，則芯片正常，測(cè)試指示燈常亮，液晶顯示器顯示OK；否則，芯片出錯(cuò)，測(cè)試指示燈閃爍，液晶顯示器顯示BAD。此芯片測(cè)試完畢，按下復(fù)位鍵3，即回到初始狀態(tài)，可以進(jìn)行下一輪測(cè)試。軟件流程圖如圖7所示。
實(shí)驗(yàn)樣機(jī)經(jīng)老師、學(xué)生使用，測(cè)試效果非常理想，測(cè)試準(zhǔn)確率可達(dá)90%以上，給教學(xué)提供了方便。
評(píng)論