基于測量數(shù)據(jù)的電磁兼容性能參數(shù)建模的研究

由圖2可以看出當(dāng)用三次多項(xiàng)式作為其數(shù)據(jù)模型時(shí)能比較好的擬合所給的數(shù)據(jù)，對其進(jìn)行參數(shù)估計(jì)和模型匯總得到各參數(shù)的基本情況如表2所示。

根據(jù)表2的數(shù)據(jù)及F檢驗(yàn)法的判斷標(biāo)準(zhǔn)可知此方程回歸效果顯著，由此可根據(jù)此方程得到因變量增益的預(yù)測值和置信區(qū)間，具體數(shù)據(jù)如表3所示。

3 結(jié)語
回歸模型是分析測試數(shù)據(jù)很重要的工具，可以得出的是參數(shù)之間的變化關(guān)系，也許單獨(dú)某對參數(shù)之間的變化關(guān)系不足以提供有意義的信息，還可以建立多元回歸模型來研究多個(gè)參數(shù)和某個(gè)參數(shù)之間的變化關(guān)系。由于回歸分析在非線性分析中的局限性，在以后的工作中將著重研究人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)在此方面的應(yīng)用。參數(shù)模型建立的方法并不是固定的，隨著研究點(diǎn)的不同，模型的選擇也不同。通過所建立模型，可以不需要進(jìn)行實(shí)際測量來預(yù)測電子系統(tǒng)未來的電磁兼容狀況，有效指導(dǎo)系統(tǒng)的電磁兼容性分析和保障。