DDR測試系列之一――力科DDR2測試解決方案

圖9 使用QPHY-DDR2對DDR2讀/寫信號繪制眼圖

DDR2測試示波器及探頭選型

關(guān)于示波器選擇方面，最低配置情況下可選擇帶寬2.5GHz的示波器進(jìn)行測試，如選擇力科SDA725Zi示波器結(jié)合QPHY-DDR2一致性測試軟件包對DDR2總線進(jìn)行測試。然而，對在頻率較高的1066M DDR2測試時，由于其時鐘頻率為533MHz，對應(yīng)的五次諧波、頻率為2.67GHz，已經(jīng)高于2.5GHz，為了捕獲到其5次甚至更高次諧波成分，需要選擇更高帶寬的示波器。所以，對DDR2總線的測量，我們推薦使用帶寬3.5G及以上的示波器進(jìn)行測量，如帶寬3.5GHz的力科SDA735Zi/740Zi/760Zi或帶寬覆蓋從4GHz到業(yè)界最高的30GHz的力科8Zi系列示波器。

對于探頭系統(tǒng)，在進(jìn)行DDR2時鐘測試時，僅需要一根足夠帶寬的差分探頭即可。在進(jìn)行電氣性能及時序測試時，使用兩根差分探頭分別測量差分時鐘及DQS/DQS#信號，一根單端探頭測量相應(yīng)的DQ信號即可完成大部分的指標(biāo)測量。 對于DDR533的DQ信號測試，建議用焊接式差分探頭。 在進(jìn)行某些差分信號交叉點電壓等指標(biāo)測量時需要使用兩根探頭分別測量該差分信號的正端及負(fù)端信號。對具體的探頭型號，推薦使用帶寬3.5GH或6GHz的力科WaveLink D320/D310或D610/D620系列可焊接式差分探頭。

結(jié)語：本文簡要介紹了DDR2總線，DDR2相關(guān)測試以及力科的DDR2全方位測試解決方案。力科QPHY-DDR2從信號連接，DDR2總線全面測試到測試報告生成各方面進(jìn)行了完美的集成，為復(fù)雜的DDR2測試提供了最佳的測試環(huán)境，從而保證了DDR2測試的精確性與高效率。

參考文獻(xiàn)

1． DDR2 SDRAM SPECIFICATION JESD79-2E，JEDEC, April 2008

2. QPHY-DDR2 datasheet, LeCroy Corp. July 2009