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        Si87xx的CMTI性能測量

        作者: 時間:2013-05-17 來源:網絡 收藏

        licon Labs數字隔離器(光電耦合器替代品)與標準光電耦合器之間關于共模瞬變抑制()魯棒性的詳細對比。該視頻中展示了如何使用被認可的經過校準的商業測試儀測量數字隔離器的瞬變抑制特性,因此你能確切的了解到我們如何測量我們產品的性能。CMTI是一種在快速共模瞬變事件過程中隔離器維護數據完整性的能力。多種情況可能引起共模瞬變,例如IGBT驅動電路、快速的高電壓或高電流開關負載、電機驅動和浮動電源。本地在隔離器或電路板上的寄生通路能夠跨越隔離柵耦合,引起數據錯誤,危及系統完整性。licon Labs Si系列產品產生的寄生電容與當前最先進的光電耦合器相比要低2-3倍。這種降低的耦合帶來更高的CMTI性能,從而提高了系統可靠性和性能;這在高可靠性應用(例如電力傳輸和通信系統)中尤其重要。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/192788.htm

        詳情請看視頻,地址為:http://bbs.21ic.com/icview-550364-1-1.html

        Si87xx的CMTI性能測量.jpg

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        關鍵詞: CMTI Si 87 xx

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