安捷倫工程師新著 X 參數權威書籍

　　安捷倫科技公司(NYSE：A)日前宣布出版《X 參數：非線性射頻與微波元器件的表征、建模和設計》，該書闡述了安捷倫突破性的非線性 X 參數測量、建模和仿真技術。該書由劍橋大學出版社出版，包含多個應用實例，是一本向讀者介紹 X 參數理論的權威指南。

　　該書作者為安捷倫科學家與工程師 David E. Root、Jan Verspecht、Jason Horn 和 Mihai Marcu，他們是 X 參數理論的原創發明人和開發者，并且這一強大理論被應用于非線性射頻與微波元器件和系統。同時，該書的作者也是工業界和學術界公認的建模、仿真和測量科學領域的權威專家。

　　本書為 X 參數技術奠定了基礎，并通過實際案例為讀者提供了有用的概算方法。這些概算方法顯著降低了非線性元器件和系統的測量、建模和設計復雜程度。本書還講解了如何利用 X 參數解決在非線性射頻與微波工程中的復雜難題。

　　此外，本書還包括實際案例分析、標準符號和表示方法的定義、詳細推導(參見附錄)、練習題及解答。該書內容豐富，為那些希望了解射頻與微波工程學最新發展趨勢的研究人員、工程師、科學家和學生提供了權威參考。

　　《X 參數：非線性射頻與微波元器件的表征、建模和設計》可經由亞馬遜或劍橋大學出版社訂購。