射頻波束賦形技術改善 TD-LTE 蜂窩小區(qū)邊緣性能

　　LTE 中的波束賦形

　　LTE 定義了多種可支持波束賦形的下行鏈路發(fā)射模式。特別受到關注的是發(fā)射模式 7、8 和 9。3GPP 第 8 版推出了支持單層波束賦形的 TM7。第 9 版增加了支持雙層波束賦形的 TM8，而第 10 版增加了 TM9，它可以支持多達 8 層發(fā)射。

　　圖 5 顯示了在 TD-LTE 蜂窩網(wǎng)絡中使用的典型 eNB 射頻天線配置。該網(wǎng)絡可支持 TM7、TM8 和 TM9 MIMO 波束賦形模式。

　　此例為一個 8 陣元物理天線，采用兩組天線單元配置。兩組天線單元彼此以 90? 正交交叉極化。天線組 0 包括天線單元 1 至 4，以 +45? 進行極化。天線組 1 包括天線單元 5 至 8，以 -45進行極化。

　　給定組內(nèi)的每個天線陣元都是空間分離的，間距大約為半個射頻載波波長。這樣可以使天線組中的天線陣元高度相關，對于相干波束賦形非常有利。由于兩個天線組彼此之間是交叉極化的，它們之間的相關度很低，所以有利于空間多路復用。因此，典型的 TD-LTE eNB 射頻天線物理配置可同時滿足 MIMO 空間多路復用和相干波束賦形這兩個合理但又矛盾的關聯(lián)要求。

　　典型的 TD-LTE eNB 波束賦形測試系統(tǒng)配置

　　波束賦形的主要測試挑戰(zhàn)是需要驗證和顯示物理射頻天線陣列的波束賦形信號性能，以便對以下指標進行驗證：

　　•eNB 射頻天線校準精度

　　•基帶編碼波束賦形加權算法正確性

　　•射頻天線處的 MIMO 信號和雙層 EVM

　　圖 6 中的測試系統(tǒng)使用 Agilent N7109A 多通道信號分析儀和支持 TD-LTE 測量的 89600 VSA 軟件。多通道信號分析儀可以支持 8 個相位相干射頻測量信道，并可與適合的射頻分離器和衰減器一起輕松集成到典型的 TD-LTE 基站測試裝置中。

　　系統(tǒng)校準是進行準確測量的關鍵。校正向導程序可以引導用戶完成系統(tǒng)校準過程，提示用戶將信號分析儀通道 1 測量電纜連接到雙路校準分離器(圖 6 中用虛線標出的注入點處)的第一個輸出端口。所有交叉信道表征測量都將以通道 1 為參考。隨后，校正向導程序提示用戶將剩下的通道 2 至 8 測量電纜(位于虛線上)逐次連接到雙路校準分離器的第二個輸出端口，每次連接一條電纜。通過這種方式，校正向導程序能夠表征所需要的交叉信道校正，對信號分析儀的波束賦形測量進行補償，消除測量電纜、連接器、分離器和衰減器中固有的所有失配效應，從而使用戶可以在射頻天線輸出端看到天線賦形性能的直接、經(jīng)過校正的測量結果。不過，對射頻電纜和連接器給測試系統(tǒng)帶來的幅度和相位變化進行校準固然重要，但也不能過分夸大。

　　如圖 7 所示，首先使用 VSA 軟件和多通道信號分析儀顯示從全部 8 個天線單元進行的時間同步射頻信號捕獲。用戶可以快速識別基礎的射頻功率或定時性能差錯，而后再執(zhí)行更高級的解調測量。