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        雙面接觸式電容壓力傳感器原理介紹

        作者: 時(shí)間:2011-09-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
        2.3 鍵合后的晶片

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/161503.htm

          2.3.1 硅熔融鍵合

          在鍵合之前,所有晶片都要進(jìn)行清洗,把晶體表面上的灰塵微粒洗掉,接著晶片在室溫下鍵合在一起,然后把這對(duì)晶片放在1000℃的純氮環(huán)境下進(jìn)行退火鍵合。

          

        圖2

          圖2

          2.3.2 硅蝕刻

          首先利用離子刻蝕把原先為減少凹凸不平而重?fù)诫s的濃硼擴(kuò)散層刻蝕掉,這一步也可用機(jī)械拋光法來進(jìn)行。刻蝕掉這一層后,接著要把梁刻蝕出來,可用腐蝕的辦法來進(jìn)行,用10%的KOH來腐蝕,前面的350μm在90℃的KOH中腐蝕,后面的50μm在50℃的KOH中腐蝕,以便得到更好的蝕刻選擇性。

          2.3.3 開一個(gè)引線窗口和排氣窗口

          引線窗口主要是在這個(gè)窗口中先淀積上一層金屬,然后從這一層金屬中引出的極板引線。要刻蝕出這個(gè)窗口可以在晶片上布一層掩膜,然后利用離子刻蝕法刻出這個(gè)窗口,同理,排氣窗口也可以這樣刻蝕。排泄窗口是為了使封裝的腔為真空而設(shè)計(jì)的。

          2.3.4 封裝腔

          排氣窗口刻蝕出以后,用LTO封裝這個(gè)排氣窗口,用LTO封裝以后,腔里的空氣幾乎為零。那么這個(gè)就可以測(cè)絕對(duì)

          2.3.5 刻蝕出梁和引線窗口

          在BHF溶液中腐蝕出梁和引線窗口,腐蝕掉鏈接層的LTO和SiO2。

          2.3.6 金屬化處理

          在引線窗口濺射上300nm的Al/Si/Cu金屬層。

          2.3.7 切割和測(cè)試

          完成后的晶體能夠被切割和測(cè)試。

          

        圖3

          圖3

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