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        Movellus 發(fā)布了首款片上電源網(wǎng)絡(luò)分析儀

        作者:Aaron Carman 時(shí)間:2025-05-20 來源:EEPW編譯 收藏

        Movellus 最近宣布了一種新的片上 ,可檢測(cè)納秒級(jí)的電源瞬變。這項(xiàng)新的 IP 技術(shù)提供晶體管級(jí)的,可能改進(jìn)制造過程中每個(gè)步驟的設(shè)計(jì)和調(diào)試。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202505/470643.htm

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        Movellus 的 PDN IQ 模塊可以在芯片上測(cè)量功率瞬態(tài),從而在密集集成 SoC 中實(shí)現(xiàn)更好的性能分析。
         

        電源分配網(wǎng)絡(luò)(PDN)是任何電氣系統(tǒng)中極其重要的組成部分,從工業(yè)電源分配到芯片級(jí)設(shè)計(jì)都有涉及。然而,在很多情況下,無法或不太合理地在系統(tǒng)的每個(gè)點(diǎn)準(zhǔn)確監(jiān)控電壓的動(dòng)態(tài)行為。對(duì)于密集集成的芯片來說,這一點(diǎn)尤其如此,這使得 Movellus 的新 IP 成為一項(xiàng)有可能極大影響 SoC 和 ASIC 開發(fā)的技術(shù)創(chuàng)新。

         

        PDN:關(guān)鍵但神秘

        幾乎每個(gè)電子系統(tǒng)的核心都是 PDN,它負(fù)責(zé)將電源從源或調(diào)節(jié)器路由到必要的組件。對(duì)于工業(yè)設(shè)計(jì)來說,這可能包括變壓器和 DC-DC 轉(zhuǎn)換器,而在 PCB 上,這可能以板級(jí)電容器和走線的形式出現(xiàn)。在這些設(shè)計(jì)中,識(shí)別靜態(tài)和瞬態(tài)錯(cuò)誤相對(duì)簡(jiǎn)單,因?yàn)閭鬏敼β实淖呔€是容易訪問的。

         


        在傳統(tǒng)的 PDN 系統(tǒng)中,分析 PDN 在“最后一英寸”的性能非常困難甚至不可能,即電源路由到芯片上的組裝或單個(gè)晶體管的地方。圖片由 Vicor 提供
         

        然而,在芯片上則完全是另一回事。對(duì)于已制造的硅,并不總是可以直接探測(cè)到可能對(duì)電路性能產(chǎn)生重大影響的晶體管級(jí)電壓。在 SoC 或高功率處理器的情況下,晶體管級(jí)電壓對(duì)最終芯片的效率和性能有重大影響。目前,可以模擬這些動(dòng)態(tài),但層間和層內(nèi)的工藝變化仍然很難考慮。因此,一個(gè)強(qiáng)大而高效的芯片級(jí)解決方案可能對(duì)設(shè)計(jì)人員非常有用。

         

        快速芯片級(jí)分析

        Movellus 的 PDN IQ 采用與工藝無關(guān)的方法,可以集成到不同的工藝中,以實(shí)現(xiàn)最大的靈活性。每個(gè) PDN IQ 可以提供高達(dá)納秒級(jí)的分辨率,使得 GHz 時(shí)鐘芯片上的最快瞬態(tài)也能輕松訪問。

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        使用 Movellus PDN IQ 系統(tǒng),設(shè)計(jì)人員可以確定各種工作負(fù)載或非理想因素(如上文所示)對(duì)單個(gè)晶體管電壓的影響,從而提高整體性能。

         

        這部分的 Movellus IP 為 SoC 的動(dòng)態(tài)運(yùn)行提供了相當(dāng)新的見解,并允許設(shè)計(jì)人員在制造過程的每一步做出更明智的決策。在特性分析中,PDN IQ 優(yōu)化了芯片的性能水平,同時(shí)提供了一條新的途徑來在測(cè)試或異構(gòu)集成期間評(píng)估性能。最后,在應(yīng)用領(lǐng)域,設(shè)計(jì)人員可以使用 PDN IQ 來分析每個(gè)獨(dú)特的負(fù)載,并確定最大性能的最佳電壓水平。

         

        實(shí)現(xiàn)更高效的 3D 集成

        Movellus 聲稱 PDN IQ 可以提供更多關(guān)于異構(gòu)集成影響的信息。例如,如果多個(gè)帶有 PDN IQ 模塊的芯片互連,額外的分析將使設(shè)計(jì)人員對(duì)其設(shè)備性能有顯著更深入的了解。這不僅使開發(fā)更好,還可能為以前不可能的所有新的異構(gòu)集成方法打開大門。

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        PDN IQ 系統(tǒng)可借助晶體管級(jí)分析,在整個(gè)生命周期中用于改進(jìn) SoC 的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證。
         

        這不僅能夠?qū)崿F(xiàn)更好的開發(fā),還可能為所有先前不可能實(shí)現(xiàn)的新型異構(gòu)集成方法打開大門。




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