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        基于HARQ的TD-LTE基站性能測(cè)試方案

        作者:張勤 白瑛 張永慧 時(shí)間:2013-05-07 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          軟件平臺(tái)

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/145029.htm

          PXB或N5182B/72B通過Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 軟件產(chǎn)生特定的參考測(cè)試信號(hào),并實(shí)時(shí)地調(diào)整編碼冗余因子。

          反饋信號(hào)格式

          基站下發(fā)給PXB或N5182B/72B的ACK/NACK信號(hào)以RS232C串行通信的數(shù)據(jù)格式進(jìn)行編碼,PXB或N5182B/72B根據(jù)相同的編碼速率和格式進(jìn)行解碼得到ACK/NACK值。反饋信號(hào)由8個(gè)比特組成,1個(gè)起始位,1個(gè)停止位,無奇偶校驗(yàn)位。具體的數(shù)據(jù)格式如表2所示。

          測(cè)試結(jié)果

          按照測(cè)試結(jié)構(gòu)圖搭建好測(cè)試系統(tǒng)并配置軟件平臺(tái),啟動(dòng)基站及PXB或N5182B/72B,同時(shí)在示波器和基站控制端觀察測(cè)試結(jié)果。

          圖6為示波器上觀察到的PXB或N5182B/72B實(shí)時(shí)響應(yīng)。通道1、2、3和4分別為上行信號(hào)幀頭、ACK/NACK指令序列、上行信號(hào)I/Q數(shù)據(jù)以及PXB或N5182B/72B的ACK/NACK響應(yīng)(高電平為ACK,低電平為NACK)。如圖所示,HARQ時(shí)序響應(yīng)與標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議完全相符。  

         

          基站端對(duì)上行射頻信號(hào)進(jìn)行分集接收并解調(diào),然后通過CRC校驗(yàn)對(duì)接收結(jié)果作出判斷,最后得到在特定衰落模型下的系統(tǒng)吞吐率。 根據(jù)3GPP TS 36.141規(guī)定,選取PUSCH,20MHz帶寬信號(hào)作為測(cè)試案例。在2根接收天線,Normal CP下,按照列出的前10個(gè)Case依次測(cè)試,結(jié)果如表3。  

         

          結(jié)論

          結(jié)果表明,系統(tǒng)完全滿足標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求。測(cè)試過程透明可見,結(jié)果顯示直觀可信。同時(shí),該測(cè)試系統(tǒng)在不添加任何硬件配置的情況下,僅僅通過軟件配置即可實(shí)現(xiàn)1×2,2×2,2×4及4×2的MIMO配置,從而實(shí)現(xiàn)基站HARQ,Timing Adjustment以及PUCCH,是基站的理想平臺(tái)。

          推薦方案:基帶與信道仿真儀 N5106A PXB配合MXG和signal studio N7625B可以提供一站式的整體解決方案;如果測(cè)試系統(tǒng)已有專用信道仿真器,則可使用N5182B/72B及signal studio N7625B完成最終測(cè)試。


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