基于HARQ的TD-LTE基站性能測(cè)試方案

　　在配置1時(shí)，上行只在子幀2、3、7和8四個(gè)位置發(fā)送上行信號(hào);下行由基站在子幀1、4、6和9發(fā)送ACK/NACK指令，指令的指示對(duì)象及重傳位置關(guān)系如圖1所示。　　

 

　　測(cè)試平臺(tái)

　　硬件平臺(tái)

　　性能測(cè)試目的在于模擬實(shí)際環(huán)境下的系統(tǒng)吞吐率，因此需要基站與測(cè)試儀器進(jìn)行聯(lián)調(diào)。硬件測(cè)試平臺(tái)包括：支持2天線接收的TD-LTE eNB基站、安捷倫基帶信號(hào)發(fā)生器與信道仿真儀PXB、安捷倫矢量信號(hào)發(fā)生器MXG(主要用于上變頻)以及一臺(tái)四通道示波器(用于系統(tǒng)調(diào)試)。測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如下：PXB實(shí)時(shí)產(chǎn)生TD-LTE上行信號(hào)并經(jīng)過(guò)特定信道模型下的衰落后，輸出的基帶I/Q信號(hào)經(jīng)過(guò)MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線。基站端對(duì)接收到的射頻信號(hào)進(jìn)行解調(diào)解碼，并以RS232C的串行通信方式將反饋結(jié)果(ACK/NACK指令)傳回至PXB，PXB根據(jù)ACK/NACK指令實(shí)時(shí)調(diào)整RV因子重新發(fā)送數(shù)據(jù)包或選擇放棄當(dāng)前數(shù)據(jù)包(當(dāng)eNB發(fā)送ACK信號(hào)或是已達(dá)到最大重傳次數(shù))。最后基站端統(tǒng)計(jì)得到系統(tǒng)的吞吐率。

　　如果測(cè)試環(huán)境確實(shí)希望使用外置信道仿真器，則只需使用安捷倫N5182B/N5172B射頻信號(hào)發(fā)生器即可完成上述系統(tǒng)的測(cè)試。典型的測(cè)量系統(tǒng)如圖3所示。