基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案
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在配置1時，上行只在子幀2、3、7和8四個位置發送上行信號;下行由基站在子幀1、4、6和9發送ACK/NACK指令，指令的指示對象及重傳位置關系如圖1所示。
本文引用地址：http://www.104case.com/article/145029.htm
測試平臺
硬件平臺
性能測試目的在于模擬實際環境下的系統吞吐率，因此需要基站與測試儀器進行聯調。硬件測試平臺包括：支持2天線接收的TD-LTE eNB基站、安捷倫基帶信號發生器與信道仿真儀PXB、安捷倫矢量信號發生器MXG(主要用于上變頻)以及一臺四通道示波器(用于系統調試)。測試系統結構如下：PXB實時產生TD-LTE上行信號并經過特定信道模型下的衰落后，輸出的基帶I/Q信號經過MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線。基站端對接收到的射頻信號進行解調解碼，并以RS232C的串行通信方式將反饋結果(ACK/NACK指令)傳回至PXB，PXB根據ACK/NACK指令實時調整RV因子重新發送數據包或選擇放棄當前數據包(當eNB發送ACK信號或是已達到最大重傳次數)。最后基站端統計得到系統的吞吐率。
如果測試環境確實希望使用外置信道仿真器，則只需使用安捷倫N5182B/N5172B射頻信號發生器即可完成上述系統的測試。典型的測量系統如圖3所示。
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