NI攜手TD產業聯盟參加首屆中國電子信息博覽會

　　美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)于2013年4月10-12日參加了由工業和信息化部與深圳市人民政府共同舉辦的第一屆中國電子信息博覽會(簡稱：CITE)。本屆博覽會是在原有中國電子展、中國消費電子展(CEF)、深圳光電顯示周、中國(國際)彩電節的基礎上整合而成。展會展出產品技術覆蓋電子信息產業全產業鏈，是目前為止亞洲最大規模的綜合電子信息展覽。通過參與“TD產業聯盟”的綜合展區， NI向到場嘉賓展示了NI在無線通信領域尤其是移動通信測試的最新產品和技術。　　

 

　　NI的無線通信測試方案，采用以軟件為中心的模塊化射頻儀器構架，基于現成可用的模塊化硬件設備，通過豐富的射頻與無線工具包以及IP共享，從TD-LTE到最新的802.11ac，工程師可快速實現從研發驗證到生產測試的一體化流程：對于研發驗證，通過提供基于軟件無線電架構的開放式測試驗證平臺，助力企業和研究院所的自主創新和自主知識產權;對于制造測試，通過提供高速并行式產線測試平臺 ，為企業提供高性價比的一站式測試解決方案 。

　　NI在現場設置的展臺向到場嘉賓展示了NI在無線通信領域的最新產品和技術，包括基于業界首款矢量信號收發儀NI PXIe-5644R 的802.11ac測試系統，TD-LTE終端測試系統，以及針對移動通信終端的多協議多終端并行測試系統。

　　PXIe-5644R結合了矢量信號分析儀、矢量信號發生器以及基于FPGA的實時信號處理和控制，具有快速的測量速度和小巧的組成結構，同時具有高靈活性和性能。PXIe-5644R具有高達80 MHz的實時帶寬以及最高至6 GHz的中心頻率，并提供了業界領先的EVM測量性能，可以滿足802.11ac的帶寬，頻率，精度要求. PXI平臺可提供同步功能，使得其尤其適用于MIMO，單個機箱中可允許使用多達5個PXIe-5644R，來構建5x5 MIMO系統。

　　多協議多終端并行測試系統方便地實現了單套測試系統并行測試四個待測終端，具體包括GSM的校準與綜測、WCDMA的校準與綜測、WiFi測試、Bluetooth測試以及GPS測試等，為進一步提升測試效率降低測試成本提供了一站式解決方案。

　　對于日益復雜化的消費電子產品和移動終端來說，測試工程師所需要關心的除了射頻之外，還需要開發攝像頭，屏幕，耳機，電池以及數字接口的測試系統，測試需求越來越復雜。NI所提供的測試平臺除了射頻測試之外，還能為包括數字接口，音視頻，電池等其他各項功能提供一站式測試平臺。

　　通過與TD聯盟的合作，NI希望能抓住TD產業鏈蓬勃發展的機遇，為研發驗證及制造測試的工程師們提供一個統一的平臺，幫助降低測試成本，從而提高產品的市場競爭力，為電子、通信領域的飛速發展提供測試技術強力支撐。