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        安捷倫在(EDI CON)展示最新射頻微波與高速數字測試解決方案

        作者: 時間:2013-03-18 來源:電子產品世界 收藏

          日前,首屆電子設計創新會議(EDI CON2013)在京舉行。作為全球最大的測量公司,科技(NYSE:A)是本次會議的白金贊助商,以“為中國的未來培育創新設計”為本次會議主題,集結來自全球各地的專家和最新的應用方案亮相首屆電子設計創新會議。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/143179.htm

          在本次大會上,共設有14個專題講座、8個專題討論以及超過10個主題的應用方案展示,參與大會的設計、測量與建模、系統工程和商業應用環節,全面展示安捷倫在微波與高速數字測試領域的最新測試應用方案,助力于為中國的未來培育創新設計。  

          
         

          安捷倫在此次展會上展示一系列技術上的創新產品。如針對國防、航空航天等高精尖領域發展的業界最高性能實時頻譜分析儀PXA,應對惡劣環境等現場測試的十合一儀表Fieldfox,精確測量小信號的高清示波器9000H系列。

          此外,安捷倫還專門展示了7個主題鮮明的測試應用方案,包括功放設計與測試、寬帶信號的產生與分析、高速數字設計和信號完整性測試分析、EMI一致性測試、EDA仿真設計、模塊化測試與應用,以及業界唯一的LTE 8X8信號生成與分析解決方案。



        關鍵詞: 安捷倫 測試 射頻

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