Synopsys將HAPS糾錯可見度提升100倍

　　全球領先的電子器件和系統設計、驗證和制造軟件及知識產權(IP)供應商新思科技公司(Synopsys, Inc.， 納斯達克股票市場代碼：SNPS)日前宣布：為其HAPS 基于FPGA原型系統的用戶推出新版的Deep Trace Debug深度追蹤糾錯軟件。借助HAPS Deep Trace Debug，原型工程師可利用比傳統FPGA片上邏輯糾錯器所用的存儲器高出將近100倍的信號存儲容量。新的深度追蹤糾錯功能同時增強了容量和故障隔離性能，同時釋放片上FPGA存儲器來滿足驗證復雜的系統級芯片(SoC)設計之需求。

　　“Qualcomm Atheros公司的Wi-Fi/Bluetooth組合產品使用了領先的Wi-Fi標準，以實現每秒千兆比特的吞吐量，這需要如Synopsys HAPS系統所提供的先進硬件及軟件驗證技術，” Qualcomm Atheros公司工程總監Manoj Unnikrishnan說道。“我們傳統的方法需要多次運行并進行反復試錯。HAPS Deep Trace Debug所提供的高容量采樣存儲使我們能夠快速找出錯誤并加速整個系統的驗證。此外，HAPS Deep Trace Debug可以幫助我們提高狀態機覆蓋、原型機覆蓋以及測試模式的生成。”

　　為確保高速接口設計的正確功能，在幾毫秒內通常需要獲得幾十個采樣點。傳統上，設計師不得不做出選擇：以消耗大量的FPGA存儲資源來捕獲冗長的信號追蹤歷史記錄，還是丟失信號追蹤歷史記錄的細節可見度來節省FPGA存儲資源。通過將Synopsys^® Identify^®智能集成電路仿真器(IICE™)與一個HAPS Deep Trace Debug SRAM子板配對，HAPS Deep Trace Debug允許許多獨特的帶有復雜觸發條件的信號探點可被記錄，并且在系統執行時存儲大量狀態歷史記錄來提供更深的記錄。SRAM子板也可釋放FPGA片上RAM，使其用于為SoC設計的存儲模塊提供原型。

　　“GSI技術NBTSRAM被設計到HAPS Deep Trace Debug SRAM的子板之上，這在SoC原型的性能高度優先時，使設計師能夠最充分利用HAPS的互連總線帶寬，” GSI科技市場營銷兼應用工程副總裁David Chapman說道。“我們的SRAM器件同時提供了流水線和直通式操作，以便為SoC原型工程師在快速讀取存儲器的響應與最大時鐘頻率之間進行選擇提供了靈活性。GSI NBT SRAM系列與新思科技的Deep Trace Debug功能相結合，確保了工程師將他們的HAPS系統用于SoC存儲的IP主控制或者作為一個擴展的調試追蹤緩沖器。”

　　“隨著各種SoC硬件與軟件的復雜性不斷提高，設計師們需要先進的糾錯工具來提升其系統驗證流程的穩健性，并支持早期的軟件開發，”新思科技IP與系統事業部市場副總裁John Koeter說道。“HAPS Deep Trace Debug通過確保原型工程師能夠去捕獲冗長的信號追蹤歷史記錄來識別設計錯誤的根本原因，因而代表了復雜SoC的糾錯產出率的重大提高。”