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        吉時利發布專為高功率半導體測試優化的高電壓數字源表

        作者: 時間:2012-03-31 來源:電子產品世界 收藏
                先進電氣測試儀器與系統的世界級領導者儀器公司今日發布高功率2600A系列高速、精密源測量單元系列產品增加了高電壓功能。此系列儀器能幫助客戶分析范圍更寬的功率半導體器件和材料。內建3,000V、180W源,支持以極低的成本向被測器件輸出5倍于最接近競爭系統的功率,并且,構建至2657A的精密、高速6位半測量引擎的1fA(飛安)電流測量分辨率滿足了下一代功率半導體器件的低漏電要求。 

                2657A專門做了這些優化:二極管、FETs和IGBTs等功率半導體器件的高壓測試應用以及氮化鎵(GaN)、碳化硅(SiC)等新材料及其它復合半導體材料和器件的特性分析。而且,2657A還適于高速瞬態分析以及在高達3000V的各種電子器件上進行故障測試和漏電測試。

                類似于2600A系列的其它產品,2657A提供了極高的靈活性、四象限電壓和電流源/負載,外加精密電壓計和電流計。2657A在一個全機架機箱中整合了多種儀器功能:半導體特性分析儀、精密電源、真電流源、6位半DMM、任意波形發生器、電壓或電流脈沖發生器、電子負載和觸發控制器,而且通過吉時利的TSP-Link®技術完全可擴展至多通道、緊同步系統。與功率相對有限的同類競爭方案所不同的是,2657A的源或阱能力高達180W直流功率(±3,000V@20mA,±1500V@120mA)。而且,2657A具有1fA分辨率,甚至在輸出3000V高壓的同時還能快速、準確地進行亞皮安級電流測量。

        數字化或集成測量模式
                對于瞬態和穩態特性分析(包括快速變化的熱效應)而言,2657A可以選擇數字化測量模式或集成測量模式。每種模式由兩個獨立的模數轉換器(ADC)定義:一個用于電流,另一個用于電壓,這兩個ADC同步工作并在不犧牲測試吞吐量的前提下確保源回讀的準確性。數字化測量模式的18bit模數轉換器支持1毫秒每點的采樣,使用戶能同步采樣電壓和電流瞬時值。反之,競爭方案通常須對多個讀數取平均值后得出結果,所以競爭方案的瞬態特性分析速度不夠快。基于22bit模數轉換器且為整個2600A系列儀器所共有的集成測量模式,優化了2657A在需要最高測量準確度和分辨率應用中的操作,確保了下一代功率半導體器件常見的極低電流和極高電壓的高精密測量。

        強大的測試開發工具
                無需安裝軟件或使用吉時利基于LXI的I-V測試軟件工具TSP Express編程就能實現基本的器件特性分析。用戶只需將PC連接至LXI LAN端口并用任意支持Java的Web瀏覽器即能訪問TSP Express。測試結果可以用圖形方式或列表方式查看,然后導出為電子表格應用的.csv文件。

                2657A提供創建測試序列的兩種附加工具:測試腳本生成器應用(用于創建、修改、調試、運行和管理TSP腳本)和基于IVI的LabVIEW®驅動程序(簡化了將2657A集成至LabVIEW測試序列)。測試腳本生成器應用的新調試功能使測試項目開發更方便并且更有成效。

                ACS軟件基礎版也是元器件特性分析的一個選件。最新發布版具有的豐富特性便于分析高電壓和大電流元器件。已更新的附帶測量庫用于支持高壓2657A和大電流2651A高功率的直流和脈沖工作模式。通過測試大多數器件的輸入、輸出和傳輸特性,這些測量庫支持FETs、BJT、二極管、IGBTs等各種功率器件。一種特殊的“追蹤模式”用簡單滑動條實現對儀器電壓或電流輸出的實時控制。

        靈活、準確度高的連接和探測方案
                2657A能通過兼容現有高壓測試應用的標準安全高壓(SHV)同軸電纜連接至測試系統的其它儀器。但是,對于需要從測量儀器的小電流測量中實現性能最大化的應用而言,吉時利還提供了專門的高壓三軸(防漏電)的連接以最佳化2657A的測量準確度。

                新型8010高功率器件測試夾具選件能連接高達3000V或100A的測試封裝高功率器件,可以更安全、更容易地配置包含高電壓2657A,一臺或兩臺大電流2651A測量儀器以及多達3臺低功率SMU儀器(其它2600A系列儀器或4200-SCS半導體特性分析系統)的器件測試系統。除了標準的香蕉頭跳線外,8010的后面板示波器和散熱探針端口簡化了DUT深入特性分析的系統集成。8010具有完整的安全互鎖功能。為防止在發生器件故障時損壞測量儀器,8010的集成保護電路防止2600A系列儀器的較低電壓輸入端口被2657A輸出的高壓損壞。而且,獨立保護模塊簡化了多臺SMU與第三方探測臺、元器件機械手或其它測試夾具的連接。


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