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        Multitest MEMS測試校準適用于MT9510水平拿放式測試

        作者: 時間:2012-01-17 來源:電子產品世界 收藏

          2012年1月---面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終分包商,設計和制造最終分選機、座和負載板的領先廠商公司,現已將首臺適于水平拿放式測試分選機的 MEMS設備發送到美國的一家IDM。這種新型組合以兩種成熟平臺為基礎:MT MEMS和。 

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/128197.htm

         

          該裝置適合MEMS陀螺儀測試,并已成功安裝。它充分利用了我們長期積累的MEMS檢測專業知識以及對器件分選相關挑戰的全面了解。因此,業內領先的定位準確度和三溫性能現也適用于MEMS測試。

          已收到封裝轉換套件及其他系統的追加訂單。



        關鍵詞: Multitest 測試 MT9510

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