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        Multitest的MT9510通過XTC實現擴展溫度控制

        作者: 時間:2011-05-09 來源:電子產品世界 收藏

          面向集成設備制造商(IDM)和最終測試分包商,設計和制造測試分選機、測試座、測試負載板的領先廠商公司,日前宣布欣然宣布其通過擴展溫度校準()功能實現了擴展溫度控制。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/119340.htm

          今天,越來越多的 IC(如顯卡芯片)需要針對DUT(受測元件)的中程功率耗散控制。對于多數此類應用來說,大量投資于既定的ATC(主動熱控)系統是不恰當的。一些半導體制造商試圖通過開發自己的專利解決方案來應對該問題。但這種做法將其資源耗費在并非其主營業務的領域,實際上也沒有帶來真正“整體”解決方案的優勢。

          利用在溫度控制方面的豐富經驗,針對高達50瓦特的中程功率耗散,開發出基于擴展溫度校準()的獨特解決方案。DUT內部的芯片穩定在設定溫度,同時亦避免了與測試針接觸之后的溫度變化。

          被集成到轉換套件中。除成本效率之外,這還確??赏耆糜谑袌錾先魏?a class="contentlabel" href="http://www.104case.com/news/listbylabel/label/MT9510">MT9510拿放式分選機。



        關鍵詞: Multitest XTC MT9510

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