Multitest的MT9510通過XTC實現(xiàn)擴(kuò)展溫度控制

　　面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商，設(shè)計和制造測試分選機(jī)、測試座、測試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前宣布欣然宣布其MT9510通過擴(kuò)展溫度校準(zhǔn)(XTC)功能實現(xiàn)了擴(kuò)展溫度控制。

　　今天，越來越多的 IC(如顯卡芯片)需要針對DUT(受測元件)的中程功率耗散控制。對于多數(shù)此類應(yīng)用來說，大量投資于既定的ATC(主動熱控)系統(tǒng)是不恰當(dāng)?shù)摹Ｒ恍┌雽?dǎo)體制造商試圖通過開發(fā)自己的專利解決方案來應(yīng)對該問題。但這種做法將其資源耗費(fèi)在并非其主營業(yè)務(wù)的領(lǐng)域，實際上也沒有帶來真正“整體”解決方案的優(yōu)勢。

　　Multitest利用在溫度控制方面的豐富經(jīng)驗，針對高達(dá)50瓦特的中程功率耗散，開發(fā)出基于擴(kuò)展溫度校準(zhǔn)(XTC)的獨(dú)特解決方案。DUT內(nèi)部的芯片穩(wěn)定在設(shè)定溫度，同時亦避免了與測試針接觸之后的溫度變化。

　　XTC被集成到轉(zhuǎn)換套件中。除成本效率之外，這還確保可完全用于市場上任何MT9510拿放式分選機(jī)。