Multitest舉辦“測試成本高級研討會”

　　Multitest在2011年3月15日至17日在上海新國際博覽中心舉辦的SEMICON China 2011展示一系列先進的產品和解決方案，并舉辦“測試成本高級研討會”。

　　Multitest推出的MT2168測試分選機是一個完美的“全能型”平臺，它同時具備靈活性及經濟性，不僅適用于集成設備制造商，也適用于分包商及全系列應用。MT2168優(yōu)化了最終測試中的測試單元利用率，提供了顯著的測試成本優(yōu)勢，優(yōu)化了測試單元效率，具備前所未有的配置能力和最高的制造可靠性。

　　Multitest的測試插座產品系列提供的連接解決方案適用于所有類型的分揀器、含鉛封裝和無鉛封裝、陣列封裝和在線封裝，還有間隙最小達0.25 mm的器件，以及單一測試、條帶測試和WLCSP。該測試插座系列涵蓋了–60° C到200° C整個溫度范圍內最廣泛的應用，包括高達40 GHz的帶寬，高達1,000 A 的高功率/高電流和KELVIN測試插座。

　　同時, Multitest還將現場演示Plug & Yield™解決方案。Plug & Yield™能夠幫助用戶以更快速度和最低成本將產品投放市場。這一解決方案實現了更好的資源利用和更快“收益時間”。同時，Plug & Yield™解決方案帶來更高的生產測試合格率和長期有效的測試技術合作關系。

　　更值得期待的是, Multitest將于3月16日在W2展廳的M2會議室舉辦 “測試成本高級研討會”。 該研討會將圍繞以下主題展開：影響測試成本的主要因素;測試座如何大幅影響測試成本;優(yōu)化測試設備使用以達到最佳測試成本;協調測試配置以達到最佳性能。研討會對所有感興趣的業(yè)界同仁開放，歡迎大家參與交流。