Multitest舉辦“測(cè)試成本高級(jí)研討會(huì)”

　　Multitest在2011年3月15日至17日在上海新國(guó)際博覽中心舉辦的SEMICON China 2011展示一系列先進(jìn)的產(chǎn)品和解決方案，并舉辦“測(cè)試成本高級(jí)研討會(huì)”。

　　Multitest推出的MT2168測(cè)試分選機(jī)是一個(gè)完美的“全能型”平臺(tái)，它同時(shí)具備靈活性及經(jīng)濟(jì)性，不僅適用于集成設(shè)備制造商，也適用于分包商及全系列應(yīng)用。MT2168優(yōu)化了最終測(cè)試中的測(cè)試單元利用率，提供了顯著的測(cè)試成本優(yōu)勢(shì)，優(yōu)化了測(cè)試單元效率，具備前所未有的配置能力和最高的制造可靠性。

　　Multitest的測(cè)試插座產(chǎn)品系列提供的連接解決方案適用于所有類型的分揀器、含鉛封裝和無鉛封裝、陣列封裝和在線封裝，還有間隙最小達(dá)0.25 mm的器件，以及單一測(cè)試、條帶測(cè)試和WLCSP。該測(cè)試插座系列涵蓋了–60° C到200° C整個(gè)溫度范圍內(nèi)最廣泛的應(yīng)用，包括高達(dá)40 GHz的帶寬，高達(dá)1,000 A 的高功率/高電流和KELVIN測(cè)試插座。

　　同時(shí), Multitest還將現(xiàn)場(chǎng)演示Plug & Yield™解決方案。Plug & Yield™能夠幫助用戶以更快速度和最低成本將產(chǎn)品投放市場(chǎng)。這一解決方案實(shí)現(xiàn)了更好的資源利用和更快“收益時(shí)間”。同時(shí)，Plug & Yield™解決方案帶來更高的生產(chǎn)測(cè)試合格率和長(zhǎng)期有效的測(cè)試技術(shù)合作關(guān)系。

　　更值得期待的是, Multitest將于3月16日在W2展廳的M2會(huì)議室舉辦 “測(cè)試成本高級(jí)研討會(huì)”。 該研討會(huì)將圍繞以下主題展開：影響測(cè)試成本的主要因素;測(cè)試座如何大幅影響測(cè)試成本;優(yōu)化測(cè)試設(shè)備使用以達(dá)到最佳測(cè)試成本;協(xié)調(diào)測(cè)試配置以達(dá)到最佳性能。研討會(huì)對(duì)所有感興趣的業(yè)界同仁開放，歡迎大家參與交流。