汽車芯片AEC-Q100測試認證解讀

1AEC-Q認證是國際汽車電子領域的準入門檻

AEC即Automotive Electronics Council，是美國汽車電子委員會的簡稱。AEC由克萊斯勒，福特和通用汽車發起并創立于1994年，目前會員遍及全球各大汽車廠、汽車電子和半導體廠商，符合AEC規范的零部件均可被上述三家車廠同時采用，促進了零部件制造商交換其產品特性數據的意愿，并推動了汽車零件通用性的實施，為汽車零部件市場的快速成長打下基礎。AEC-Q為AEC組織所制訂的車用可靠性測試標準，是零件廠商進入汽車電子領域，打入一級車廠供應鏈的重要門票。

AEC-Q100是AEC的第一個標準，主要是針對車載應用的集成電路產品所設計出的一套應力測試標準，此規范對于提升產品信賴性品質保證相當重要。AEC-Q100是預防可能發生各種狀況或潛在的故障狀態，對每一個芯片進行嚴格的質量與可靠度確認，特別對產品功能與性能進行標準規范測試。

2要求通過AEC-Q100標準的車用集成電路IC

單顆IC，如MCU芯片、MPU芯片、存儲類芯片、計算類芯片、安全類芯片、LED類驅動芯片、電源芯片、運算放大器、比較器、感知用模擬芯片、通信類芯片等

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AEC-Q100車用IC產品驗證流程

4AEC-100測試項目分組

• 群組A--加速環境應力測試(PC、THB/HAST/AC、UHST/TH、TC、PTC、HTSL)共6項測試

• 群組B--加速生命周期模擬測試(HTOL、ELFR、EDR)--共3項測試

• 群組C--封裝組裝完整性測試(WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI)--共6項測試

• 群組D--芯片制造可靠性測試(EM、TDDB、HCI、NBTI、SM)--共5項測試

• 群組E--電性驗證測試(TEST、HBM/MM、CDM、LU、ED、FG、CHAR、EMC、SC、SER、LF)--共11項測試

• 群組F--缺陷篩選測試(PAT、SBA)--共2項測試

• 群組G--腔體封裝完整性測試(MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV)--共8項測試

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華碧能力范圍及AEC-100技術要求

關于華碧實驗室

華碧實驗室是國內領先的集檢測、鑒定、認證和研發為一體的第三方檢測與分析的新型綜合實驗室，擁有豐富的車規級電子認證經驗，已成功幫助300多家企業順利通過AEC-Q系列認證，通過AEC-Q100對每一個芯片個案進行嚴格的質量與可靠度確認。

華碧實驗室以車企車規芯片國產化需求為牽引，依托國產半導體產業基礎，提供完善的檢測認證服務，通過AEC-Q100車用標準嚴格把控汽車芯片安全質量，助力國產車規級芯片大力發展，為打造智能汽車安全體系再添新動力。

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