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一種基于FPGA的準單輸入調變序列生成器設計

• 　　1.引言 　　隨著集成電路復雜度越來越高，測試開銷在電路和系統總開銷中所占的比例不斷上升，測試方法的研究顯得非常突出。目前在測試源的劃分上可以采用內建自測試或片外測試。內建自測試把測試源和被測電路都集成在芯片的內部，對于目前SOC級的芯片測試如果采用內建自測試則付出的硬件面積開銷則是很大的，同時也增加了芯片設計的難度：因此片外測試便成為目前被普遍看好的方法。由于FPGA具有可重構的靈活性，利用FPGA來作為測試源實現片外測試就是一種非常有效的手段。 　　由于偽隨機模式測試只需要有限個數的輸入向量便
• 關鍵字： 嵌入式系統  單片機  FPGA  序列生成器  Verilog  HDL  MCU和嵌入式微處理器