NI近日與ARM公司共同發布了應用于ARM微處理器上的NI LabVIEW嵌入式模塊。它是LabVIEW圖形化系統設計平臺的延伸，直接適用ARM 7, ARM 9和Cortex-M3微處理控制器系列產品。新模塊結合圖形化系統設計平臺與世界最流行的微控制器以簡化嵌入式系統開發。
該模塊是第一款由兩家公司共同合作下，結合LabVIEW的易操作性和ARM微處理器性能的產品。ARM是行業內主要的32位嵌入式精簡指令集（RISC）處理器供應商，目前占有超過75％的市場份額以及超過100億的ARM核設備。當
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NI ARM LabVIEW 嵌入式 微控制器
美國國家儀器中國有限公司近日發布了帶有集成鍵盤的NI PMA-1115便攜監測器，該PMA可以連接到NI的任何8槽或者PXI Express機箱。在PXI的不同應用領域，該產品與PXI機箱的配合使用都非常理想，如汽車，自動測試設備以及航空航天和國防等產業中車輛測試，手機故障診斷和個人自動測試執行程序等應用。
“在皇家荷蘭海軍中，PXI是國防應用的自然選擇。” Richard van der Weide說道，“我們需要使用獨立的NI LabVIEW和基于PXI的
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NI PXI 觸摸屏
美國國家儀器有限公司宣布推出其NI LabVIEW 8.5控制設與仿真模塊。作為LabVIEW圖形化系統設計平臺的擴展，該模塊可以幫助工程師和科學家們分析開環模型的狀況，設計閉環控制器，仿真系統以及創建實時操作。該模塊最新版本引入了全新的設計功能，如解析比例積分微分（PID）以提高系統的閉環的穩定性和對于多變量系統的模型預測控制。LabVIEW控制設計與仿真模塊還帶有18個全新的“.m”文件函數來擴展對LabVIEW MathScript的支持，以簡化諸如建模、定義模型如何連接
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NI LabVIEW 控制設計 仿真模塊
2008年4月 -美國國家儀器有限公司（National Instruments,簡稱NI） 推出新款M系列USB數據采集設備（DAQ），該設備支持18位模擬輸入，采樣率達到625 kS/s。NI USB-6281和USB-6289包含18位ADC，相比傳統16位設備其分辨率提高4倍，與高于5?位分辨率的DC測量旗鼓相當。這些設備還提供了增強型模擬輸出通道，能夠實現量程及偏移量可編程設定。除了標準螺絲型端子或mass終端連接器等選擇，OEM版還提供與嵌入式系統的集成性功能，包括34針和5
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NI USB 數據采集
PXI Express的技術優勢
由于PXI標準采用了PCIe技術，PXI自動化測試系統提供了前所未有的高性能。在有些情況下，PXI儀器現在可以執行一些迄今一直無法完成的測量。
PXI Express是由PXI擴展所得。新型PXI Express機箱提供了支持PXI與PXI Express模塊協同工作于同一系統的混合兼容的插槽。所以
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PXI Express PCIe技術
1 引言
熱膨脹儀測試系統國內目前大多使用VC開發，其編程過程復雜，儀器之間的通訊實現十分繁瑣，需要花費大量的時間。美國NI公司提出的虛擬儀器是一種綜合的測試技術，它通過計算機上添加幾種共性的基本儀器硬件模塊，通過軟件的思想來組合成各種功能的儀器和系統的儀器設計思想。虛擬儀器技術利用LabVIEW進行開發，LabVIEW系統開發能縮短復雜程序的開發時間，更迅捷、更經濟地解決測試問題，而且它的界面友好，這使得它已經越來越多地在應用在測試領域。它內置了PCI、DAQ、GPIB、PXI、VXI、RS一
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NI 虛擬儀器
傳統設計模式所應對的挑戰
嵌入式系統正在滲入現代社會的各個方面，廣泛地應用于航空航天、通信設備、消費電子、工業控制、汽車、船舶等領域，據統計，在美國平均每個中產階級家庭要使用40~50個嵌入式系統。巨大的市場需求推動了嵌入式系統向更高的技術水平發展。設計師們一方面采用性能更強大的嵌入式處理器如32位、64位RISC芯片取代傳統的8位、16位微處理器；另一方面嵌入式系統也由單處理器單操作系統的傳統結構向混合型Multi-core系統發展，通過采用多個處理器和OS提高系統并行度來提高系統運行效能，并
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NI LabVIEW 嵌入式系統
HIRFL-CSR工程
蘭州近代物理所HIRFL-CSR(重離子加速器－冷卻存儲環)工程是國家九五重點國家重大科學工程。HIRFL-CSR是一個集加速、累積、冷卻 、儲存、內靶實驗及高分辨測量于一體的多功能實驗裝置。
蘭州近代物理所HIRFL-CSR包括：主環(CSRm)、實驗環(CSRe)、束運線、放射性束(RIB)分離器、實驗探測裝置。主環周長161米，最高加速能量為900MeV/u(12C6+)和400MeV/u(238U72+)，試驗環周長129米，最大接收能量為600MeV/u
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PXI 重離子加速器 冷卻存儲環控制系統
NI 發表 NI LabVIEW 8.5 控制設計與模擬 (Control Design and Simulation) 模塊，為 LabVIEW 圖形化系統設計平臺的延伸，可協助分析開回路 (Open-loop) 模型的行為、設計閉回路 (Closed-loop) 控制器，仿真系統，并建立實時建置作業。最新版模塊具有新的設計功能，如可提升系統閉回路穩定性的分析式 PID 功能，與多變量 (Multivariable) 系統的模型預測控制。LabVIEW 控制設計與仿真 (Control Design
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NI LabVIEW 8.5
概述
無線射頻接收機是一個監測系統，它負責從天線上接收射頻能量，然后把信號頻率降到數字化儀可接收的范圍內進行采集，隨后就可以對信號進行諸如掃頻、頻譜分析、功率計算、調制和解調參數分析的操作。一個無線監測接收系統的主要指標應該包括：動態范圍、靈敏度、本底噪聲、解調模式等。此文將詳細介紹基于NI PXI技術的無線電接收機技術指標。
NI射頻架構綜述
NI的射頻架構基于虛擬儀器技術的概念，它包括：高性能的模塊化硬件(射頻信號分析儀PXI-5660、射頻信號發生器PXI-5670)以及高靈活
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NI PXI技術 無線電接收機
引言
測試是成本中應避免的支出。移動電話的生產測試成本可能會占項目總成本較大的一部分。在移動電話測試中，決定其參數和功能測試的程度是相當復雜的，必須對生產線變化以及在測試過程和設計成熟時加以評估。以調試為目的進行的測試與其它測試略有差別，調試在生產過程中是重要的增值步驟，而不單只是驗證過程。調試的需求直接與器件的設計相關，在此階段采用PXI模塊儀器有助于改進生產率和降低對功能測試的要求。
生產測試過程
印刷電路板(PCB)生產和手機生產是兩個分開的制程。測試過程是從PCB生產線已裝滿
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模塊儀器 VXI PXI 移動電話
美國國家儀器宣布正式發布其第一款基于PXI的源測量單元(source measure uNIt，SMU)和業界最高密度的PXI開關模塊。這兩款產品將PXI平臺的應用延伸至高精密度直流測試領域，如半導體參數測試及電子設備器件的驗證。工程師們可以同時使用這兩款模塊在多管腳設備上掃描電壓和電流的特征參數，相比傳統的方式，具有輕便小巧、性價比高的優點。
NI PXI-4130源測量單元是一款可編程、靈活、高功率且適合高精度直流測試應用的3U PXI模塊。其相互隔離的SMU通道，可提供包含4線遙感的四象限
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NI
如今的手機生產測試面臨越來越復雜的環境，一邊是多種頻段和多制式的挑戰，一邊是生產測試速度的壓力，同時還面臨測試成本的壓力。確定手機射頻參數和功能檢驗測試的合適的深度和廣度是比較復雜的，它需要我們隨著生產線的變化，產品本身的成熟度的提升不斷尋找平衡點。射頻校準在整個生產流程中，它是一個增加產品價值的步驟，它的測試要求直接與產品的設計有關。
生產測試流程
這里的生產測試不包括PCB（印刷電路板）生產，當PCB投入到手機組裝線上時，生產測試流程開始，由此手機將經歷5個操作步驟：
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PXI，射頻模塊儀表
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