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        ni-pxi 文章 最新資訊

        NI PXI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀助半導(dǎo)體移動(dòng)設(shè)備制造商降低測試成本

        • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布了NI NI PXIe-5632 VNA,它經(jīng)進(jìn)一步優(yōu)化,可幫助工程師滿足日益復(fù)雜的射頻測試要求,而其成本、尺寸和使用所需時(shí)間僅是傳統(tǒng)堆疊式解決方案的極小一部分。
        • 關(guān)鍵字: NI  分析儀  PXIe-5632  

        NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

        • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu),NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測試設(shè)置變得更為容易,擴(kuò)展了測試和報(bào)告的靈活性,讓工程師可在并行測試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
        • 關(guān)鍵字: NI  TestStand  測試系統(tǒng)  

        設(shè)計(jì)壽命更長的自動(dòng)測試系統(tǒng)

        儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)

        • 由美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)舉辦的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)”中國站于11月16日在北京萬達(dá)索菲特大飯店圓滿落幕。今年的NIDays以“儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)”為主題,向近千位來自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體全方位展示了NI在推動(dòng)測試測量、控制和設(shè)計(jì)領(lǐng)域及創(chuàng)新技術(shù)應(yīng)用方面一直所做的努力。
        • 關(guān)鍵字: NI  測試測量  嵌入式  

        從GBIP到PXI--量測技術(shù)發(fā)展簡史

        • 前言對于當(dāng)今的電子工業(yè)而言,從組件到系統(tǒng)、設(shè)計(jì)到生產(chǎn),量測工作皆是不可或缺的一環(huán)。工廠必須借助量測獲知...
        • 關(guān)鍵字: GBIP  PXI  量測技術(shù)  

        NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

        • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu),NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測試設(shè)置變得更為容易,擴(kuò)展了測試和報(bào)告的靈活性,讓工程師可在并行測試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
        • 關(guān)鍵字: NI  自動(dòng)化測試  

        NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

        • NI TestStand 2012采用全新的模塊化框架,能夠簡化自動(dòng)化測試的開發(fā)和報(bào)告生成。NI TestStand 2012包含新的異步數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告生成方法,適用于并行測試,還能夠提升測試吞吐量。
        • 關(guān)鍵字: NI  測試  

        復(fù)雜的汽車電子系統(tǒng)需要高效的測試解決方案

        • 美國國家儀器公司(NI)在汽車電子領(lǐng)域已經(jīng)耕耘了多年,在半導(dǎo)體技術(shù)與汽車融合的大趨勢下,他們有哪些舉措呢?為此,我們采訪了NI公司汽車電子方面的產(chǎn)品經(jīng)理Noah Reading,聽他來講述NI公司在汽車電子方面的解決之道。
        • 關(guān)鍵字: NI  ECU  汽車電子  

        十五年磨礪 PXI應(yīng)用迎來黃金時(shí)代

        • 基于PCI的PXI標(biāo)準(zhǔn)從1997年被提出以來,作為挑戰(zhàn)存在已久的VXI出現(xiàn)的新鮮面孔,借助PC平臺的快速發(fā)展,PXI技術(shù)以驚人的速度在測試和控制應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。在PXI快速發(fā)展的過程中,1998年成立的PXI系統(tǒng)聯(lián)盟起了重要的推廣作用,系統(tǒng)聯(lián)盟在1999年就達(dá)到了50家,為PXI的起跑提供了強(qiáng)有力的支撐。
        • 關(guān)鍵字: PXI  測量測試  201210  

        LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件對數(shù)字開發(fā)的影響

        • 長期以來的預(yù)測趨勢揭示了整個(gè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)流程中的設(shè)計(jì)和測試趨于統(tǒng)一,這兩個(gè)先前獨(dú)立的功能將被集成在一起。集成功能的明顯優(yōu)勢在于縮短了投入市場的時(shí)間并獲得更好的整體質(zhì)量,而這些優(yōu)勢都?xì)w功于在創(chuàng)建設(shè)計(jì)的同時(shí)集成了測試定義和實(shí)現(xiàn)。在系統(tǒng)設(shè)計(jì)過程中,從仿真到實(shí)現(xiàn)以及最終系統(tǒng)部署,都可以對這些早期測試平臺進(jìn)行重用。
        • 關(guān)鍵字: NI  LabVIEW  FPGA  

        整合高性能儀器和FPGA 實(shí)現(xiàn)最佳WLAN測量

        • 在下一代無線局域網(wǎng)白皮書中已經(jīng)討論了最新的802.11標(biāo)準(zhǔn)存在的一些問題。眾所周知,測試工程師都想盡快找到測試該標(biāo)準(zhǔn)的測試設(shè)備。大多數(shù)測試工程師發(fā)現(xiàn)使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統(tǒng)方法已經(jīng)無法適用于該情況。出現(xiàn)該問題的原因十分簡單:測試工程師急需各種資源,主要包括時(shí)間、預(yù)算和空間。
        • 關(guān)鍵字: NI  FPGA  WLAN  

        WLAN測量的最佳選擇:NI PXI與FPGA革新性應(yīng)用優(yōu)勢

        • 概述在下一代無線局域網(wǎng)白皮書中已經(jīng)討論了最新的802.11標(biāo)準(zhǔn)存在的一些問題。眾所周知,測試工程師都想盡快找到測試該標(biāo)準(zhǔn)的測試設(shè)備。大多數(shù)測試工程師發(fā)現(xiàn)使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統(tǒng)方法已經(jīng)無法適用于該情
        • 關(guān)鍵字: WLAN  FPGA  PXI  測量    

        泛華恒興推出基于PXI總線的RAID陣列卡

        • 近日,北京泛華恒興科技有限公司(簡稱:泛華恒興)推出了一款基于PXI總線的RAID陣列卡——PXI-3702。該卡最多可以板載4個(gè)SATA硬盤,為用戶提供數(shù)據(jù)備份和存儲空間擴(kuò)展,最大讀寫速度可以達(dá)到80MB/S。
        • 關(guān)鍵字: 泛華恒興  RAID  PXI-3702  

        NI提供802.11ac WLAN和低耗電藍(lán)牙技術(shù)測試解決方案

        • 全新發(fā)布的針對802.11ac WLAN以及低耗電藍(lán)牙(BLE)技術(shù)測試的NI解決方案集成了NI WLAN測量套件,基于FPGA的NI PXIe-5644R矢量信號收發(fā)儀(VST)以及NI LabVIEW,可以幫助搭建高性能、基于軟件設(shè)計(jì)的測試系統(tǒng)。
        • 關(guān)鍵字: NI  FPGA  WLAN  

        NI LabWindows/CVI 2012加速測試測量應(yīng)用程序的開發(fā)

        • NI LabWindows/CVI 2012,是用于測試測量應(yīng)用的ANSI C集成開發(fā)環(huán)境(IDE)的一個(gè)重要的升級更新,它增添了許多全新工具包并包含了許多經(jīng)過改善-了的工具包,能夠幫助工程師更加快速地開發(fā)他們的系統(tǒng)。
        • 關(guān)鍵字: NI  LabWindows/CVI  測試測量  
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