近年來高速鐵路迅速發展，高速列車運行的安全性備受人們的關注，因此高速列車制動系統的可靠性顯得更為重要。制動控制單元是高速動車組制動控制系統的核心部件，擔負著制動力計算，電空聯合制動演算控制、防滑控制、空壓機控制、通信、監控以及故障處理等任務。
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NI BCU PXI
“通過使用DIAdem進行測量、評估和自動化任務，我們高效地完成了此次研究。該程序易于使用，并且基于對話框的操作方式可以預防許多錯誤，這節省了大量的時間。”
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NI 測試 DIAdem 引擎蓋
如果您參加了NIWeek 2009的回顧，您將有幸可以看到測試和測量行業中最重要的前景。正是在那個關鍵階段，美國國家儀器和泰克公司宣布了他們將合作創造有史以來最快的模塊化3U PXI 數字化儀。
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NI 泰克 數字化儀 PXI
7 月16 日，美國國家儀器有限公司（NI）在古城西安成功舉辦了第九屆 NI 高校教師交流會 ( Professor Day 2013 ) ，時隔幾年之后NI教師交流會再次光臨西安，今年的教師交流會以“圖形化系統設計助力創新型工程教學與高效率院校科研”為主題，共吸引了來自全國 28 個省/直轄市、192 所高校的 270 余名教師參加。
第九屆教師交流會的主題演講圍繞針對工程教育的“Do Engineering”這一理念展開。首先由 NI 全球高校市場
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NI，高校，工程教學，測試測量
美國國家儀器有限公司(National Instruments, 簡稱NI)于近日宣布，正與Kollmorgen公司合作，擴大運動控制應用范圍。 Kollmorgen是全球領先的供應商，為原始設備制造商提供運動系統和組件。 這些產品包括驅動器、電機、線性定位器、減速機、電纜及配件。此次兩個行業領先者在運動控制方面的合作，使得原本復雜的機械與設備設計變得更為容易。
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NI Kollmorgen LabVIEW
美國國家儀器有限公司(National Instruments, 簡稱NI)于 7 月16 日在古城西安成功舉辦了第九屆 NI 高校教師交流會 ( Professor Day 2013 ) 。西安作為中國西部的重要城市擁有豐富的教育資源，今年的教師交流會以“圖形化系統設計助力創新型工程教學與高效率院校科研”為主題，共吸引了來自全國 28 個省/直轄市、192 所高校的 270 余名教師參加。
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NI 圖形化系統設計
近日，美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)與 NI 能源電力合作伙伴上海遠寬能源一起拜訪了開普電器檢測研究院，并與開普實驗室賀春副院長就智能電網領域的測試、測量與電力電子控制仿真以及 IEC-61850 規約測試等方面進行了交流。
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NI 開普電器 能源電力 智能電網
美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)將其NI FlexRIO(基于FPGA的可重配置I/ O產品系列)擴展至20多個模塊。 六個新的適配器模塊添加包括數字化儀、信號生成以及IF和RF收發儀功能的I/O。
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NI FPGA FlexRIO 適配器
2013年7月4日，由美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)提供贊助，被稱為“正能量建筑”的上海交通大學校園生態能源示范項目、SDC2013上海交通大學代表隊測試建筑日上江村在交大閔行校區美麗的擷英園宣布落成。
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NI 無線傳感器網絡 太陽能
美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI)攜手東南大學在NI中國總部舉行 “東南大學-美國國家儀器 卓越工程師聯合培養基地” 揭牌儀式。
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NI 培養基地
由美國國家儀器有限公司(NI)主辦，《電子產品世界》雜志社承辦的第十屆“中國PXI技術和應用論壇”(PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC)于2013年5月28日在北京萬達索菲特大飯店成功舉辦，超過500名工程師和技術人員到場參加。
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NI PXI 201307
“通過高效利用SCXI模塊，讓我們可以只使用一個DAQ板卡就建立起一個極具成本效益的高通道數的數據采集系統。”
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NI LabVIEW SCXI
“通過使用LabVIEW以及PXI、SCXI開發平臺，此測試系統能夠在生產線所要求的每個節拍20秒時間內完成嚴格的測試。”
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克萊斯勒 NI 測試系統
美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)于6 月 7 日參加在重慶舉辦的 2013AETF 第八屆亞太汽車電子技術論壇峰會，共有數百位汽車行業的聽眾與會。NI 參加此次活動，旨在向重慶及西部地區的廣大汽車行業專家和工程師介紹 NI 在汽車電子仿真設計和測試領域的主要應用方向、技術方案和最新進展。
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NI 汽車電子 測試
在《下一代無線局域網》白皮書中已經討論了最新的802.11標準存在的一些問題。眾所周知，測試工程師都想盡快找到測試該標準的測試設備。大多數測試工程師發現使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統方法已經無法適用于該情況。出現該問題的原因十分簡單：測試工程師急需各種資源，主要包括時間、預算和空間。
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