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        soc矢量 文章
                  進入soc矢量技術社區  
                  
        
                
        
                                
        
                  

                                
        
                    
        SoC設計中結構測試儀的矢量生成原理
        
                                                            
          
                    	
        • 深亞微米和納米設計中出現了新的缺陷類型，單開發和使用功能性矢量已經無法滿足對產品測試的實際需求。掃描、AC掃描、邏輯內建自測試(LBIST)和存儲器BIST這類結構測試方法為理解設計規范、識別生產和設計中的缺陷、描繪和監控產品生產過程以及加速產品上市提供了一種更加有效的方法。 
          • 
                    	                        
        • 關鍵字：
                        SoC矢量                          
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