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SoC設(shè)計(jì)中結(jié)構(gòu)測(cè)試儀的矢量生成原理
- 深亞微米和納米設(shè)計(jì)中出現(xiàn)了新的缺陷類型，單開(kāi)發(fā)和使用功能性矢量已經(jīng)無(wú)法滿足對(duì)產(chǎn)品測(cè)試的實(shí)際需求。掃描、AC掃描、邏輯內(nèi)建自測(cè)試(LBIST)和存儲(chǔ)器BIST這類結(jié)構(gòu)測(cè)試方法為理解設(shè)計(jì)規(guī)范、識(shí)別生產(chǎn)和設(shè)計(jì)中的缺陷、描繪和監(jiān)控產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程以及加速產(chǎn)品上市提供了一種更加有效的方法。
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