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用Arrhenius方程預(yù)測(cè)電子元件老化

• 了解如何計(jì)算老化過程的活化能，以及關(guān)于Arrhenius方程在預(yù)測(cè)晶體老化過程時(shí)的有用性的一些相互矛盾的觀點(diǎn)。在之前的一篇文章中，我們討論了高溫加速老化方法是一種有效的技術(shù)，它使制造商能夠使用相對(duì)較短的測(cè)試時(shí)間來確定電子元件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。例如，使用這種方法，從30天的測(cè)試中獲得的數(shù)據(jù)可能足以以可接受的精度確定一年后晶體的漂移。為了應(yīng)用這項(xiàng)技術(shù)，我們需要知道衰老過程的活化能。在這篇文章中，我們將了解更多關(guān)于計(jì)算老化過程的活化能。我們還將探討關(guān)于Arrhenius方程/公式在應(yīng)用于老化預(yù)測(cè)問題時(shí)的有用性的一些
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