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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 芯片驗證

        芯片驗證 文章 進入芯片驗證技術社區

        本土EDA巨頭華大九天多種解決方案 滿足客戶定制化需求

        • 當前,芯片設計和制造的工藝節點走向納米量級,芯片功能越來越復雜,客戶定制化需求越來越多,FAB正在面臨著紛繁復雜的問題:工藝庫更新速度快定制多,工作處理的數據規模變得越來越大,IP與客戶數據融合工作越來越繁重復雜,版圖數據版本多差異小,快速出具DRC/LVS檢驗報告等。針對這些問題,華大九天提出了以下相應解決方案,這些方案貼近FAB工程
        • 關鍵字: 版圖數據處理  語法規則  芯片驗證  

        基于OVM驗證平臺的IP芯片驗證

        •  芯片驗證的工作量約占整個芯片研發的70%,已然成為縮短芯片上市時間的瓶頸。應用OVM方法學搭建SoC設計中的DMA IP驗證平臺,可有效提高驗證效率。  隨著集成電路設計向超大規模發展,芯片驗證工作的難度在不斷增大
        • 關鍵字: OVM  芯片驗證    

        應對百萬門級系統級芯片驗證挑戰的可擴展解決方案

        • 功能驗證是電子設計人員目前面臨的主要挑戰,無論是設計團隊還是驗證團隊,都將超過50%的時間用在糾錯上,因此這一領域的技術進展將對縮短產品上市時間產生重大影響。本文探討基于斷言的技術和改進的糾錯方法,以及為
        • 關鍵字: 門級  方案  系統級  芯片驗證    

        基于RVM的層次化SoC芯片驗證平臺設計及應用

        • 本文以SIM卡控制模塊的功能驗證為例,介紹了運用Synopsys Vera驗證工具以及RVM驗證方法學快速高效地搭建高質量驗證平臺的方法。文中詳細介紹了RVM驗證方法學以及RVM驗證平臺的結構。
        • 關鍵字: RVM  SoC  芯片驗證  平臺設計    
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        芯片驗證介紹

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