芯片生命周期管理 文章 進入芯片生命周期管理技術社區

新思科技芯片生命周期管理再升級，加速數據傳輸并顯著縮短測試時間

• 新思科技（Synopsys, Inc.，）近日推出了一項創新的流結構技術（Streaming fabric technology），能夠將芯片數據訪問和測試的時間最高縮短80%，并極大程度地降低極限功耗，從而支持日益復雜的大型設計中芯片健康監測的實時分析。作為新思科技芯片生命周期管理流程的一部分，該創新的流結構是一種獨特的片上網絡，由新思科技TestMAX? DFT可測性設計工具生成，可以快速地將芯片數據傳輸到多個設計塊和多裸晶芯片系統中，顯著縮短了測試和分析芯片整體健康狀況以發現異常和故障的時間
• 關鍵字： 新思科技  芯片生命周期管理  數據傳輸  測試時間