- 去年，TechInsights通過一系列博客展示了電氣特性的力量，對于揭示碳化硅器件規格書遠遠不能提供的碳化硅器件特性。分析半導體摻雜的技術多種多樣，例如：· 掃描式電容顯微鏡（SCM ），我們經常將它包含在我們的功耗報告中，這為我們提供了大面積的相對摻雜物分析。· 掃描式電阻測定（SRP）和二次離子質譜（SIMS）可以給出定量分析，但是尺
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TechInsights 碳化硅JFETs原子探針層析成像
碳化硅jfets原子探針層析成像介紹
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