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	硅碎
        

        
	
        
    	
        
    	  	
        
              	
                                
        
                  

                                
        
                    
        半導體三極管的失效分析與可靠性研究
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 三極管在電路中主要起放大和開關作用，產(chǎn)品在實際應用中失效多單，經(jīng)分析主要故障為短路與開路失效。通過X光、CT掃描、開封等方法分析研究，發(fā)現(xiàn)此故障為焊接不良、塌絲導致。對全流程包含設備的生產(chǎn)環(huán)節(jié)進行整改，并通過優(yōu)化檢測方法、增加顯微鏡檢查以及X光全檢等檢測設備，提高產(chǎn)品可靠性。
          • 
                    	                        
        • 關鍵字：
                        虛焊  硅碎  塌絲  顯微鏡  X光透視  測試方法  202201                          
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