測量 文章 最新資訊
安捷倫為三個移動WiMAX(tm)測量解決方案添加MIMO第2波測試支持
- 安捷倫科技公司近日宣布,其矢量信號分析儀(VSA)、Signal Studio和移動WiMAX測試儀測量解決方案已經得到進一步加強,以方便WiMAX論壇(r)第2波系統(tǒng)協(xié)議的測試。 這些標準化協(xié)議指定多路輸入多路輸出(MIMO)等選項。MIMO是一種可擴充容量的多天線技術,作為移動WiMAX的基礎支持IEEE 802.16e-2005。安捷倫增強測量解決方案能夠精確和經濟高效地測試MIMO及其他第2波協(xié)議功能,為工程師進行移動WiMAX信號分析、信號生成和端到端功能測試提供
- 關鍵字: 測試 測量 安捷倫 WiMAX MIMO 通訊 無線 網絡 測試測量
Bjørge AS公司選擇Blackfin處理器支持復雜的聲學監(jiān)測器
- 信號處理解決方案供應商,今日發(fā)布ADI公司的Blackfin®處理器用作世界第一個分布式同步海底管道監(jiān)測系統(tǒng)的主要部件,該系統(tǒng)是由Bjørge AS公司基于挪威歷史上最大的工業(yè)項目用于Ormen Lange天然氣田輸出的NAXYS技術開發(fā)的。NAXYS技術采用水聲技術和非接觸傳感器技術用于完成復雜的海底環(huán)境狀態(tài)監(jiān)測和分析任務。 該系統(tǒng)開發(fā)采用了支持ADI 公司Blackfin處理器的美國國家儀器公司(NI)的LabVIEW開發(fā)模塊。支持Blackfin處
- 關鍵字: 測試 測量 Bjø rge AS Blackfin 處理器 測試測量
NI發(fā)布LabVIEW 8.5版本,助您自在享受多核時代的到來
- 美國國家儀器有限公司正式推出專用于測試、控制和嵌入式系統(tǒng)開發(fā)的LabVIEW圖形化系統(tǒng)設計平臺的最新版本——LabVIEW 8.5。基于NI近十年來在多線程技術上的投資,LabVIEW 8.5憑借其本質上的并行數據流特性,簡化了多核以及FPGA應用的開發(fā)。隨著處理器廠商通過并行多核構架獲得性能上的提升,運行在這些新處理器上的LabVIEW 8.5可以提供更高的測試吞吐量、更有效的處理器密集型(processor-intensive)的分析、以及運行在指定處理器核上的、更可靠的
- 關鍵字: 嵌入式系統(tǒng) 單片機 NI LabVIEW 8.5 測試 測量 嵌入式
ARM7一VxWorKs的網絡化實時彩色分析虛擬儀器
- 特種光源、彩色顯示等行業(yè)的基礎是彩色的還原與傳遞,在光學計量領域屬于光源的光度和色度計量范疇,色坐標和亮度因數是主要的參數之一。光度、色度測試系統(tǒng)的性能,在高清晰度數字電視的白場基準測試、高清晰度數字攝像機白平衡校準以及半導體光電二極管LED照明和全彩色顯示的白場均勻性測試等領域發(fā)揮著基礎性關鍵作用。 人眼的視覺可以感受380nm~780nto范圍內的光信號,但對不同波長光的敏感程度不同。l924年國際照明委員會CIE公布了2。視場明視覺光譜光視效率函數V(γ)[1]。仿真人眼亮度感受的光度探測器
- 關鍵字: 測試 測量 虛擬儀器 ARM7一VxWorKs 測試測量
一種基于VB的虛擬數字濾波器的設計
- 虛擬儀器的構成 從構成要素講,虛擬儀器系統(tǒng)是由計算機、應用軟件和儀器硬件組成的。計算機與儀器硬件又稱為VI的通用儀器硬件平臺。基于PC機平臺的虛擬儀器,不但具有強大的軟件開發(fā)資源,而且造價低,適合于普通用戶。本設計就是采用PC DAQ系統(tǒng)來實現(xiàn)的。本設計的系統(tǒng)構成如圖1所示。其采用研華公司的PCL2818LS數據采集卡為主,構建計算機硬件外圍電路,實現(xiàn)信號調理和高速數據采集。PCL2818LS數據采集卡有如下的功能和特點: 16路單端或8路差分模擬量輸入;40 kHz 12位A/D轉換器;可對每個輸入
- 關鍵字: 測試 測量 VB 數字 濾波器 測試測量
應用材料公司推出Centura Carina Etch系統(tǒng)克服高K介電常數
- 近日,應用材料公司推出Centura® Carina™ Etch系統(tǒng)用于世界上最先進晶體管的刻蝕。運用創(chuàng)新的高溫技術,它能提供45納米及更小技術節(jié)點上采用高K介電常數/金屬柵極(HK/MG)的邏輯和存儲器件工藝擴展所必需的材料刻蝕輪廓,是目前唯一具有上述能力并可以用于生產的解決方案。應用材料公司的Carina技術具有獨一無二的表現(xiàn),它能達到毫不妥協(xié)的關鍵刻蝕參數要求:平坦垂直,側邊輪廓不含任何硅材料凹陷,同時沒有任何副產品殘留物。 應用材料公司資深副總裁、硅系統(tǒng)業(yè)務
- 關鍵字: 測試 測量 應用材料 晶體管 刻蝕 IC 制造制程
測量介紹
測量的概念
所謂測量,是指用實驗的方法,將被測量(未知量)與已知的標準量進行比較,以得到被測量大小的過程;是對被測量定量認識的過程。
測量的定義
1.早期的定義:研究地球的形狀和大小,確定地面點的坐標的學科。
2.當前的定義:研究三維空間中各種物體的形狀、大小、位置、方向和其分布的學科。
測量學的內容包括測定和測設兩個部分。測定是指使用測量儀器和工具,通過測 [ 查看詳細 ]
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