測量文章最新資訊

相位檢測原理分析及其在微弱信號測量中的應用

在非接觸測量旋轉物體內(nèi)部溫度時，所獲取的反饋信號相當微弱，有可能會受到瞬間低電平信號的干擾。本文介紹一種利用相位檢測，來判斷所獲取的反饋信號是真是假，從而鎖定真信號并正確顯示被測對象溫度的方法。
　　
關鍵字：相位檢測分析測量微弱信號

數(shù)字化控制UPS中電池電壓的檢測方法

1.引言隨著用電設備對電源系統(tǒng)可靠性要求的進一步提高，能夠獲得持續(xù)、穩(wěn)定的純凈電源的UPS得到了越來越...
關鍵字：不間斷電源控制數(shù)字信號處器測量

電磁兼容性的設計及其測量

1、主要技術參數(shù)電磁兼容性的設計是一項復雜的系統(tǒng)工程。首先要學習并掌握有關標準及規(guī)范，然后參照實際電磁環(huán)境來提出具體的要求，進而制定技術和工藝的實施方案。在設計電子儀器、設備時。應重點考慮電路設計、隔離
關鍵字：電磁兼容性測量

隔離型µModule電源轉換器改善了信號測量準確度

引言
對于因變化不定的電位所引起的接地平面中的擾動 (常被稱為接地環(huán)路) 而言，正確實施的電流隔離是一種有效的防護舉措。由于物理限制的原因，PCB 上的電氣組件必需在不同的物理位置與接地平面相連。因此，當每個
關鍵字：信號測量準確度 Linear 改善轉換器 µ Module

測量光耦響應時間的簡單電路

本例中的電路可以用于測量光敏電阻型光耦的啟動與恢復時間(圖1)。這些光耦器件一般用于音頻壓縮器或音量控 ...
關鍵字：測量光耦響應

消除測試設備對射頻器件測量影響

提高精度已成為最早期矢量網(wǎng)絡分析儀(VNA)測量的目標。通過校準和矢量誤差校正技術，可以將VNA精度從儀器端口 ...
關鍵字：測試設備射頻器件測量

圖文解析能源之星LED照明測量標準及檢測細節(jié)

為加速LED照明商品化，北美能源之星針對LED照明產(chǎn)品特性，訂定迥異于傳統(tǒng)照明的測試規(guī)范，包含環(huán)境溫度測試、積分球量測、配光曲線等，透過LED照明產(chǎn)品測試方式定義的一致性，區(qū)分出LED照明裝置的優(yōu)良，有利于質量升
關鍵字：標準檢測細節(jié) 測量照明解析能源 LED 圖文

電力功率測量方法

電力功率測量方法從大的方面來看，很多領域都需要功率測量，而且不同領域功率測量的方法是大不相同的。例如在 ...
關鍵字：電力功率測量

硬件電路測量中的陷阱分析

在平時測試硬件電路的時候，經(jīng)常會遇到一些容易忽視又不容易覺察的問題，但是我們又必須正視這些問題的存在，并想方設法減弱或者消除這些問題，這里稱之為硬件電路測量中的陷阱。　　測試儀器和儀表的負載效應和濾波
關鍵字：硬件電路測量分析

WSN技術和無線測量技術

一.名詞釋義無線傳感器網(wǎng)絡（Wireless Sensor Network, WSN）就是由部署在監(jiān)測區(qū)域內(nèi)大量的廉價微型傳感器節(jié)點組成，通過無線通信方式形成的一個多跳的自組織的網(wǎng)絡系統(tǒng)，其目的是協(xié)作地感知、采集和處理網(wǎng)絡覆蓋區(qū)
關鍵字：技術測量無線 WSN

使用 MSP430F133 單片機改造老式測量儀表

概述在核污染的環(huán)境評測中，最常用的儀表是X、gamma; 輻射空氣吸收劑量率儀。在這類儀表中，使用的測量原理主要有以下兩種：一種方法是使用脈沖計數(shù)的方法，在這類方法中使用光電倍增管或使用計數(shù)管對核輻射脈沖計數(shù)
關鍵字：測量儀表老式改造 MSP430F133 單片機使用

貼片式光電耦合器原理及測量

目前極大多數(shù)的光耦輸入部分采用砷化鎵紅外發(fā)光二極管，輸出部分采用硅光電二極管、硅光電三極管及光觸發(fā)可控硅。這是因為峰值波長900～940nm的砷化鎵紅外發(fā)光二極管能與硅光電器件的響應峰值波長相吻合，可獲得較高
關鍵字：測量原理耦合光電貼片

10G信號抖動測量的檢定分析方法

由于不斷追求更高性能，有效數(shù)據(jù)窗的單位間隔(UI)繼續(xù)縮短。速率為1Gbps時，UI為1000 ps;5Gbps縮短為200ps;10Gbps則為100ps。對于100ps的有效數(shù)據(jù)窗，在系統(tǒng)沒有連貫而可靠地發(fā)送和接收數(shù)據(jù)之前，只能容忍很小的Tj (
關鍵字： 10G 信號抖動測量檢定

時頻參數(shù)測量中存儲容量的壓縮方法

摘要：介紹一種單片機測量時頻參數(shù)時的數(shù)據(jù)處理方法，即線性地址變換法。在存儲容量有效壓縮的基礎上，進一步分析 ...
關鍵字：測量頻率周期單片機存儲容量

光源閃爍簡介及閃爍度測量

　一.概述　　1.閃爍的基本概念　　人們發(fā)現(xiàn)，長期在日光燈下看書會感到不舒服，雖然其光亮度與白天無異。這是為什么呢?經(jīng)過研究，原來這是因為日光燈的光強是隨時間變化所致。也就是光源的閃爍所致。　　那什么是光
關鍵字：閃爍測量簡介光源

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測量介紹

　　測量的概念　　所謂測量，是指用實驗的方法，將被測量（未知量）與已知的標準量進行比較，以得到被測量大小的過程；是對被測量定量認識的過程。　　測量的定義　　1.早期的定義：研究地球的形狀和大小，確定地面點的坐標的學科。　　2.當前的定義：研究三維空間中各種物體的形狀、大小、位置、方向和其分布的學科。　　測量學的內(nèi)容包括測定和測設兩個部分。測定是指使用測量儀器和工具，通過測 [ 查看詳細 ]