測試時間 文章 進(jìn)入測試時間技術(shù)社區(qū)
新思科技芯片生命周期管理再升級，加速數(shù)據(jù)傳輸并顯著縮短測試時間
- 新思科技（Synopsys, Inc.，）近日推出了一項創(chuàng)新的流結(jié)構(gòu)技術(shù)（Streaming fabric technology），能夠?qū)⑿酒瑪?shù)據(jù)訪問和測試的時間最高縮短80%，并極大程度地降低極限功耗，從而支持日益復(fù)雜的大型設(shè)計中芯片健康監(jiān)測的實時分析。作為新思科技芯片生命周期管理流程的一部分，該創(chuàng)新的流結(jié)構(gòu)是一種獨(dú)特的片上網(wǎng)絡(luò)，由新思科技TestMAX? DFT可測性設(shè)計工具生成，可以快速地將芯片數(shù)據(jù)傳輸?shù)蕉鄠€設(shè)計塊和多裸晶芯片系統(tǒng)中，顯著縮短了測試和分析芯片整體健康狀況以發(fā)現(xiàn)異常和故障的時間
- 關(guān)鍵字： 新思科技 芯片生命周期管理 數(shù)據(jù)傳輸 測試時間
| 共5條 1/1 1 |
測試時間介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條測試時間!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對測試時間的理解，并與今后在此搜索測試時間的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對測試時間的理解，并與今后在此搜索測試時間的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473