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        方法 文章 最新資訊

        protel DXP調(diào)用舊庫(kù)的方法

        • 其實(shí)在pcb設(shè)計(jì)中這樣是沒(méi)有必要的,但有人想這么做。對(duì)Protel DXP的試用版的使用以及對(duì)其教程的研究,發(fā)現(xiàn)在Protel DXP中的元件庫(kù)已經(jīng)不再是以前的單一的元件庫(kù)了,而是使用集成元件庫(kù),即將與原理圖元件庫(kù)相關(guān)聯(lián)的用
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        用時(shí)間戳計(jì)數(shù)器測(cè)量頻率的方法(下)

        • 頻率測(cè)量在倒數(shù)計(jì)頻器中,不管有沒(méi)有采用內(nèi)插法,頻率測(cè)量都有一個(gè)規(guī)定的開(kāi)始點(diǎn)(開(kāi)始觸發(fā)事件)和結(jié)束點(diǎn)(結(jié)束觸發(fā)事件)。在每個(gè)測(cè)量的開(kāi)始點(diǎn)和結(jié)束點(diǎn)之間都必定有一段死時(shí)間,用來(lái)將結(jié)果傳輸?shù)捷敵鼋涌谏?,并將?jì)度器
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        用時(shí)間戳計(jì)數(shù)器測(cè)量頻率的方法(上)

        • 計(jì)頻器曾被視為是電壓計(jì)級(jí)別的基本測(cè)量工具,能夠依靠調(diào)制以較高的分辨率測(cè)量一個(gè)CW信號(hào),并廣泛用于校準(zhǔn)振蕩器。隨著計(jì)頻器的發(fā)展,測(cè)量?jī)x器具有了測(cè)量脈沖的能力,并具備了能夠處理調(diào)制波形上的測(cè)量的更寬的測(cè)量帶
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        汽車(chē)電子硬件設(shè)計(jì)的方法

        • 在電子工程專(zhuān)輯上看到博主Rocky的一篇關(guān)于通信行業(yè)硬件設(shè)計(jì)的一篇文章,感嘆不同行業(yè)之間考慮的問(wèn)題是相似的,只是環(huán)境條件不同,功能有差異,可靠性要求有差異。甚至是汽車(chē)電子內(nèi)部的不同產(chǎn)品之間的硬件設(shè)計(jì),也略有
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        JMP統(tǒng)計(jì)方法在制藥行業(yè)質(zhì)量管理中的應(yīng)用

        • JMP統(tǒng)計(jì)方法在制藥行業(yè)質(zhì)量管理中的應(yīng)用,國(guó)內(nèi)制藥行業(yè)有個(gè)很好玩的現(xiàn)象,就是從政府部門(mén)到企業(yè)都在強(qiáng)調(diào)質(zhì)量的重要性,國(guó)外的三字經(jīng)也學(xué)了不少,用了不少,最典型就是GMP了。在一窩蜂的上了GMP、GSP、GXP之后,質(zhì)量卻還是那個(gè)質(zhì)量,問(wèn)題也還是那個(gè)問(wèn)題。
           
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        LED顯示屏單元板故障以及處理方法

        • LED顯示屏單元板故障以及處理方法,LED顯示屏單元板:A.整板不亮1、檢查供電電源與信號(hào)線(xiàn)是否連接。2、檢查測(cè)試卡是否以識(shí)別接口,測(cè)試卡紅燈閃動(dòng)則沒(méi)有識(shí)別,檢查燈板是否與測(cè)試卡同電源地,或燈板接口有信號(hào)與地短路導(dǎo)致無(wú)法識(shí)別接口。(智能測(cè)試卡)
        • 關(guān)鍵字: 處理  方法  以及  故障  顯示屏  單元  LED  

        內(nèi)嵌ARM9E內(nèi)核系統(tǒng)級(jí)芯片的原型驗(yàn)證方法

        • 內(nèi)嵌ARM9E內(nèi)核系統(tǒng)級(jí)芯片的原型驗(yàn)證方法,【摘要】隨著大容量高速度的FPGA的出現(xiàn),在流片前建立一個(gè)高性?xún)r(jià)比的原型驗(yàn)證系統(tǒng)已經(jīng)成為縮短系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)驗(yàn)證時(shí)間,提高首次流片成功率的重要方法。本文著重討論了用FPGA建立原型進(jìn)行驗(yàn)證的流程、優(yōu)缺點(diǎn)以及常
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        FPGA仿真方法介紹及其仿真程序設(shè)計(jì)

        • 一、概述

          FPGA仿真方法:

          (1)交互式仿真方法:利用EDA工具的仿真器進(jìn)行仿真,使用方便,但輸入輸出不便于記錄規(guī)檔,當(dāng)輸入量較多時(shí)不便于觀(guān)察和比較。

          (2)測(cè)試平臺(tái)法:為設(shè)計(jì)模塊專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的仿真程序,可
        • 關(guān)鍵字: FPGA  仿真  方法  程序設(shè)計(jì)    

        利用濕式蝕刻工藝提高LED光萃取效率之產(chǎn)能與良率的方法

        • 近幾年來(lái)III族氮化物(III-Nitride)高亮度發(fā)光二極體(High Brightness Light EmissiON Diode; HB-LED)深獲廣大重視,目前廣泛應(yīng)用于交通號(hào)志、LCD背光源及各種照明使用上?;旧?,GaN LED是以磊晶(Epitaxial)方
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        利用80C31單片機(jī)串行口實(shí)現(xiàn)多個(gè)LED顯示的一種簡(jiǎn)單方法

        • 在單片機(jī)系統(tǒng)中,常常用數(shù)碼管(LED)做顯示器。一般的顯示器為4位或8位,即需要4個(gè)或8個(gè)LED。實(shí)現(xiàn)這種顯示的方法比較多,也比較簡(jiǎn)單。但是,對(duì)于多個(gè)LED顯示,就必須采取必要的措施才能實(shí)現(xiàn)。本文介紹一種設(shè)計(jì)方法,
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        光電旋轉(zhuǎn)編碼器的原理及應(yīng)用方法

        • WinCE下光電編碼器的驅(qū)動(dòng)程序設(shè)計(jì)近年來(lái),嵌入式技術(shù)發(fā)展迅速,嵌入式系統(tǒng)在各行各業(yè)得到了廣泛的應(yīng)用。然而,由于嵌入式計(jì)算機(jī)的專(zhuān)用性,系統(tǒng)的硬件、軟件結(jié)構(gòu)千差萬(wàn)別,其輸入設(shè)備也不再像通用計(jì)算機(jī)那樣單一。嵌入
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        如何判斷光源質(zhì)量好與壞的檢測(cè)方法

        • 方法如下:(在外形和亮度相同的情況下)用萬(wàn)能表測(cè)量光源的電阻, 電阻小的光衰大,使用壽命短;電阻大的光衰小,使用壽命長(zhǎng)。1、辨別食人魚(yú)模組:食人魚(yú)模組白光和紅光的電阻一般是150歐姆,客戶(hù)在測(cè)試亮度后用萬(wàn)能
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        設(shè)計(jì)合理的高速總線(xiàn)測(cè)試方法

        • 設(shè)計(jì)合理的高速總線(xiàn)測(cè)試方法,就在幾年前,許多設(shè)計(jì)工程師還在苦苦掙扎于步履沉重的總線(xiàn)和I/O速度,而每12~18個(gè)月各種處理器的運(yùn)行速度就增加一倍。而后,幾乎是一夜之間,總線(xiàn)和I/O技術(shù)開(kāi)始發(fā)生變化。速度加倍,而后又增加一倍。緊接著,如源同步
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        PIM分析儀測(cè)試連接器互調(diào)的新方法介紹

        • 0 引言  在微波網(wǎng)絡(luò)中,同軸連接器是引起互調(diào)的主要來(lái)源。同軸連接器的非線(xiàn)性特性是引起互調(diào)的主要原因。準(zhǔn)確確定同軸連接器的無(wú)源互調(diào)對(duì)整個(gè)射頻系統(tǒng)設(shè)計(jì)有重大的意義。目前大多數(shù)的連接器生產(chǎn)廠(chǎng)家采用的測(cè)試方法
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        瞬態(tài)電磁脈沖對(duì)單片機(jī)的輻照效應(yīng)實(shí)驗(yàn)及加固方法

        • 靜電放電產(chǎn)生的電磁輻射可產(chǎn)生很強(qiáng)的瞬態(tài)電磁脈沖(ESD EMP)。隨著電子技術(shù)的高速發(fā)展,ESD EMP的危害也日趨嚴(yán)重。ESD EMP具有峰值大、頻帶寬等特點(diǎn),作為近場(chǎng)危害源,對(duì)各種數(shù)字化設(shè)備的危害程序可與核電磁脈沖(NEMP
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        方法介紹

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