- 光纖宏彎損耗測試，在國家標準GB/T9771.3-2008中描述為：光纖以30mm半徑松繞100圈，在1625nm測得的宏彎損耗應不超過0.1dB。 而注2中描述：為了保證彎曲損耗易于測量和測量準確度，可用1圈或幾圈小半徑環光纖代
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G652D 光纖 測試方法 損耗
- 1）序言 文章介紹如何設計電路，減低采用IRIS40xx系列集成開關器的反激式電源中的空載和待機狀態損耗。要達到此目的，可以利用一個根據負載情況轉換IRIS器件的工作模式的電路。準諧振模式(Quasi-resonant mo
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設計 損耗 電源 開關 集成
- 光纖傳輸損耗的產生原因是多方面的，在光纖通信網絡的建設和維護中，最值得關注的是光纖使用中引起傳輸損耗的原因以及如何減少這些損耗。光纖使用中引起的傳輸損耗主要有接續損耗（光纖的固有損耗、熔接損耗和活動接
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損耗 應用 光纖
- 您是否有過為降壓穩壓器充電、進行滿功率測試，隨后在進行電感指端溫度測試時留下了永久(燙傷)印記的經歷呢?或許過高的磁芯損耗和交流繞組損耗就是罪魁禍首。在 100-kHz 開關頻率下，一般不會出現任何問題，這是
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解決方案 損耗 電感 降低
- 我們建議使用如下輸出電流函數來計算電源損耗：下一步是利用上述簡單表達式，并將其放入效率方程式中：這樣，輸出電流的效率就得到了優化(具體論證工作留給學生去完成)。這種優化可產生一個有趣的結果。當輸出電
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電源 效率 最大化 實現 損耗 減少 如何
- 您是否曾詳細計算過設計中的預計組件損耗，結果卻發現與實驗室測量結果有較大出入呢?本電源設計小貼士介紹了一種簡便方法，以幫助您消除計算結果與實際測量結果之間的差異。該方法基于泰勒級數展開式，其中規定(
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解決方案 問題 損耗 電路 電源
- 本文介紹了集成續流二極管(FWD)的1200V RC-IGBT，并將探討面向軟開關應用的1,200V逆導型IGBT所取得的重大技術進步。IGBT技術進步主要體現在兩個方面：通過采用和改進溝槽柵來優化垂直方向載流子濃度，以及利用“場終
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IGBT 軟開關 損耗
- 摘要：介紹一種新的軟開關Boost變換器。傳統的Boost變換器在開通和關斷時將產生開關損耗，因此使整個系統的效率下降。新的Boost變換器利用軟開關方法增加了輔助開關管和諧振電路。這樣，相比硬開關情況下，變換器減小
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變換器 Boost 開關 損耗
- 電子產品世界,為電子工程師提供全面的電子產品信息和行業解決方案,是電子工程師的技術中心和交流中心,是電子產品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網絡家園
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微帶線 相速 波長 損耗
- 摘要：本文詳細闡述了有源鉗位正激變換器的工作原理，分析了各工作模態的功率損耗，得出了功率損耗與勵磁電感間的關系。經理論推導證明存在著一個最優的勵磁電感值，可以使得變換器功率損耗最小，輸出效率最高。 敘詞
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分析 損耗 功率 變換器 有源
- MOSFET的開關軌跡線是判斷MOSFET開關過程“軟硬”程度的重要評估指標，MOSFET的軟硬程度對于開關電源的性...
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MOSFET 損耗 開關 動態 截至 飽和
- 本文僅用n+2個有源CCCⅡ器件、n個接地電容及兩個電阻方便地構成低通、帶通、高通、帶阻及全通類型的n階濾波 ...
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損耗 低通 無源 帶通
- 摘要：本文介紹光纖接續損耗產生的原因，光纖接續損耗測試的原理以及幾種測試方法的應用和計算，較為系統的闡述了光纖接續損耗測試的科學方法。 光纖接續損耗是光纖通信系統性能指標中的一項重要參數，損耗值的大小直接影響到光傳輸系統的整體傳輸質量，在光纜施工和維護測試中，運用科學的測試分析方法，對提高整個光纜接續施工質量和維護工作極其重要，尤其是進一步研究光通信中長波長的單模光纖的通信性能、傳輸衰耗、測量精度和檢查維修等方面有一定現實意義。 一、 光纖接續損耗分析 1、 光
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測量 測試 光纖 接續 損耗
- Recom的R-78xx系列從根本上解決了由于輸入電壓不穩定，引起的輸入電壓和輸出電壓差值較大，所導致較大的內部損...
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穩定 損耗 SIP 穩壓
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