- 光纖宏彎損耗測試，在國家標準GB/T9771.3-2008中描述為：光纖以30mm半徑松繞100圈，在1625nm測得的宏彎損耗應不超過0.1dB。而注2中描述：為了保證彎曲損耗易于測量和測量準確度，可用1圈或幾圈小半徑環光纖代替100圈
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G652D 如何提高 光纖 測試
- 光纖宏彎損耗測試，在國家標準GB/T9771.3-2008中描述為：光纖以30mm半徑松繞100圈，在1625nm測得的宏彎損耗應不超過0.1dB。 而注2中描述：為了保證彎曲損耗易于測量和測量準確度，可用1圈或幾圈小半徑環光纖代
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G652D 光纖 測試方法 損耗
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