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抖動(dòng)（jitter）測(cè)量
抖動(dòng)（jitter）測(cè)量 文章 最新資訊
利用TDR (時(shí)域反射計(jì))測(cè)量傳輸延時(shí)
- 利用TDR (時(shí)域反射計(jì))測(cè)量傳輸延時(shí)隨著時(shí)鐘速率的提高，利用高速示波器有源探頭測(cè)量延時(shí)的傳統(tǒng)方法很難獲得 ...
- 關(guān)鍵字： TDR 時(shí)域反射計(jì) 測(cè)量
一種自由軸法RLC測(cè)量電路設(shè)計(jì)
- 引 言 R，L，C是電子電路及系統(tǒng)的主要元件，R，L，C參數(shù)的測(cè)量方法有電橋法、諧振法、伏安法。伏安法測(cè)量中，有固定軸法和自由軸法兩種，固定軸法要求相敏檢波器的相位參考基準(zhǔn)嚴(yán)格地與標(biāo)準(zhǔn)阻抗電壓的相位相同，對(duì)
- 關(guān)鍵字： RLC 自由軸 測(cè)量 電路設(shè)計(jì)
數(shù)字示波器關(guān)于開(kāi)關(guān)式電源的微弱噪聲測(cè)試方案
- 開(kāi)關(guān)式電源已經(jīng)變得非常常見(jiàn)，由于它能高效提供大功率精密電壓。這種電源要求低的功率傳導(dǎo)損耗，需要在開(kāi)關(guān)管有大的電壓動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量能力，這個(gè)大電壓范圍在很多應(yīng)用里超過(guò)幾百伏。這次研討會(huì)重點(diǎn)討論影響數(shù)字示波器精確測(cè)量的幾大因素，包括底噪聲，影響測(cè)試精度的過(guò)驅(qū)動(dòng)恢復(fù)能力，本次研討會(huì)主要針對(duì)工程師的開(kāi)關(guān)式電源測(cè)試和開(kāi)關(guān)式應(yīng)用的測(cè)試。
- 關(guān)鍵字： 測(cè)量 示波器
R&S在哈工大開(kāi)設(shè)研究生天線理論實(shí)驗(yàn)課程
- 2011年10月27日，由羅德與施瓦茨公司(ROHDE & SCHWARZ，簡(jiǎn)稱(chēng)R&S公司)開(kāi)設(shè)的天線理論實(shí)驗(yàn)課教學(xué)活動(dòng)在哈爾濱工業(yè)大學(xué)誠(chéng)意樓進(jìn)行，課程由R&S中國(guó)區(qū)測(cè)量與測(cè)量產(chǎn)品經(jīng)理徐鴻飛博士主講。內(nèi)容包括天線測(cè)量的理論和方法介紹、網(wǎng)絡(luò)分析儀的原理與使用、天線參數(shù)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量演示及討論等。
- 關(guān)鍵字： R&S 測(cè)量 網(wǎng)絡(luò)分析儀
多MEMS傳感器的嵌入式姿態(tài)測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 多MEMS傳感器的嵌入式姿態(tài)測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì),摘要：針對(duì)姿態(tài)測(cè)量在低成本、低功耗、微型化應(yīng)用中的需求，設(shè)計(jì)了三軸MEMS陀螺儀、加速度計(jì)、電子羅盤(pán)與嵌入式技術(shù)相結(jié)合的姿態(tài)測(cè)量系統(tǒng)。介紹了系統(tǒng)的組成結(jié)構(gòu)，設(shè)計(jì)了嵌入式姿態(tài)測(cè)量硬件電路，并實(shí)現(xiàn)了基于姿態(tài)計(jì)
- 關(guān)鍵字： 系統(tǒng) 設(shè)計(jì) ADC 測(cè)量 姿態(tài) 傳感器 嵌入式 MEMS
抖動(dòng)（jitter）測(cè)量介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)抖動(dòng)（jitter）測(cè)量的理解，并與今后在此搜索抖動(dòng)（jitter）測(cè)量的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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